講演抄録/キーワード |
講演名 |
2010-04-13 16:20
Out-of-Orderスーパスカラ・プロセッサの耐過渡故障方式の改良 ○有馬 慧・岡田崇志・喜多貴信・塩谷亮太・五島正裕・坂井修一(東大) CPSY2010-5 DC2010-5 |
抄録 |
(和) |
半導体プロセスが微細化するにつれて,ばらつきの問題が深刻化してきている.ばらつきを吸収するために,近年,動的なタイミング・フォルトを動的に検出・回復する技術が提案されている.そのひとつに,リセットをベースにした回復手法がある.本研究では,Out-of-orderスーパスカラ・プロセッサのコミット・ステージに着目し,この手法をより信頼のあるものへ改良する.この手法は,動的なタイミング・フォルトだけでなく,他の過渡故障にも対応できる. |
(英) |
The feature size of LSI is getting smaller year by year, increasing random variation between the elements. To overcome the problem of the variation, there are researches about detecting and recoverying from runtime timing-faults, and one of them is based on reset function. We focus attention on commit stage of out-of-order superscalar processors, and improve this reset-based scheme.Processors with this scheme can recover not only from timing-fault but from transient-fault. |
キーワード |
(和) |
ばらつき / タイミング・フォルト / 過渡故障 / リセット / / / / |
(英) |
random variation / timing-fault / transient-fault / reset / / / / |
文献情報 |
信学技報, vol. 110, no. 2, CPSY2010-5, pp. 21-26, 2010年4月. |
資料番号 |
CPSY2010-5 |
発行日 |
2010-04-06 (CPSY, DC) |
ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 |
著作権に ついて |
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CPSY2010-5 DC2010-5 |