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講演抄録/キーワード
講演名 2010-04-13 16:20
Out-of-Orderスーパスカラ・プロセッサの耐過渡故障方式の改良
有馬 慧岡田崇志喜多貴信塩谷亮太五島正裕坂井修一東大CPSY2010-5 DC2010-5
抄録 (和) 半導体プロセスが微細化するにつれて,ばらつきの問題が深刻化してきている.ばらつきを吸収するために,近年,動的なタイミング・フォルトを動的に検出・回復する技術が提案されている.そのひとつに,リセットをベースにした回復手法がある.本研究では,Out-of-orderスーパスカラ・プロセッサのコミット・ステージに着目し,この手法をより信頼のあるものへ改良する.この手法は,動的なタイミング・フォルトだけでなく,他の過渡故障にも対応できる. 
(英) The feature size of LSI is getting smaller year by year, increasing random variation between the elements. To overcome the problem of the variation, there are researches about detecting and recoverying from runtime timing-faults, and one of them is based on reset function. We focus attention on commit stage of out-of-order superscalar processors, and improve this reset-based scheme.Processors with this scheme can recover not only from timing-fault but from transient-fault.
キーワード (和) ばらつき / タイミング・フォルト / 過渡故障 / リセット / / / /  
(英) random variation / timing-fault / transient-fault / reset / / / /  
文献情報 信学技報, vol. 110, no. 2, CPSY2010-5, pp. 21-26, 2010年4月.
資料番号 CPSY2010-5 
発行日 2010-04-06 (CPSY, DC) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685    Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード CPSY2010-5 DC2010-5

研究会情報
研究会 DC CPSY  
開催期間 2010-04-13 - 2010-04-13 
開催地(和) 東京工業大学(大岡山) 
開催地(英)  
テーマ(和) ディペンダブルコンピューティングシステムおよび一般 
テーマ(英)  
講演論文情報の詳細
申込み研究会 CPSY 
会議コード 2010-04-DC-CPSY 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) Out-of-Orderスーパスカラ・プロセッサの耐過渡故障方式の改良 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Improvement of Transient-Fault-Tolerant Scheme for Out-of-Order Superscalar Processors 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) ばらつき / random variation  
キーワード(2)(和/英) タイミング・フォルト / timing-fault  
キーワード(3)(和/英) 過渡故障 / transient-fault  
キーワード(4)(和/英) リセット / reset  
キーワード(5)(和/英) /  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 有馬 慧 / Satoshi Arima / アリマ サトシ
第1著者 所属(和/英) 東京大学 (略称: 東大)
The University of Tokyo (略称: The Univ. of Tokyo)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 岡田 崇志 / Takashi Okada / オカダ タカシ
第2著者 所属(和/英) 東京大学 (略称: 東大)
The University of Tokyo (略称: The Univ. of Tokyo)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 喜多 貴信 / Takanobu Kita / キタ タカノブ
第3著者 所属(和/英) 東京大学 (略称: 東大)
The University of Tokyo (略称: The Univ. of Tokyo)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 塩谷 亮太 / Ryota Shioya / シオヤ リョウタ
第4著者 所属(和/英) 東京大学 (略称: 東大)
The University of Tokyo (略称: The Univ. of Tokyo)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) 五島 正裕 / Masahiro Goshima / ゴシマ マサヒロ
第5著者 所属(和/英) 東京大学 (略称: 東大)
The University of Tokyo (略称: The Univ. of Tokyo)
第6著者 氏名(和/英/ヨミ) 坂井 修一 / Shuichi Sakai / サカイ シュウイチ
第6著者 所属(和/英) 東京大学 (略称: 東大)
The University of Tokyo (略称: The Univ. of Tokyo)
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講演者 第1著者 
発表日時 2010-04-13 16:20:00 
発表時間 30分 
申込先研究会 CPSY 
資料番号 CPSY2010-5, DC2010-5 
巻番号(vol) vol.110 
号番号(no) no.2(CPSY), no.3(DC) 
ページ範囲 pp.21-26 
ページ数
発行日 2010-04-06 (CPSY, DC) 


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