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講演抄録/キーワード
講演名 2010-04-23 14:10
[招待講演]大気圧熱プラズマジェットを用いたシリコン膜のマイクロ秒溶融結晶化と高性能TFT作製応用
東 清一郎広島大SDM2010-9 OME2010-9
抄録 (和) (まだ登録されていません) 
(英) (Not available yet)
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文献情報 信学技報, vol. 110, no. 15, SDM2010-9, pp. 39-44, 2010年4月.
資料番号 SDM2010-9 
発行日 2010-04-16 (SDM, OME) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685    Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード SDM2010-9 OME2010-9

研究会情報
研究会 SDM OME  
開催期間 2010-04-23 - 2010-04-23 
開催地(和) 沖縄県青年会館 
開催地(英) Okinawa-Ken-Seinen-Kaikan Bldg. 
テーマ(和) 薄膜(Si,化合物,有機,フレキシブル)機能デバイス・材料・評価技術および一般 
テーマ(英) Advanced Thin-Film Devices (Si, Compound, Organic) and Related Topics 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 SDM 
会議コード 2010-04-SDM-OME 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 大気圧熱プラズマジェットを用いたシリコン膜のマイクロ秒溶融結晶化と高性能TFT作製応用 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Microsecond Melting and Crystallization of Silicon Films Induced by Atmospheric Pressure Thermal Plasma Jet Irradiation and Its Application to Thin Film Transistor Fabrication 
サブタイトル(英)  
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第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 東 清一郎 / Seiichiro Higashi / ヒガシ セイイチロウ
第1著者 所属(和/英) 広島大学 (略称: 広島大)
Hiroshima University (略称: Hiroshima Univ.)
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講演者 第1著者 
発表日時 2010-04-23 14:10:00 
発表時間 30分 
申込先研究会 SDM 
資料番号 SDM2010-9, OME2010-9 
巻番号(vol) vol.110 
号番号(no) no.15(SDM), no.16(OME) 
ページ範囲 pp.39-44 
ページ数
発行日 2010-04-16 (SDM, OME) 


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