| 講演抄録/キーワード |
| 講演名 |
2010-06-22 13:20
並行システムを解析するための逐次化と状態削減機能の実装 ~ 仕様の自動生成を目指して ~ ○磯部祥尚(産総研) CAS2010-25 VLD2010-35 SIP2010-46 CST2010-25 |
| 抄録 |
(和) |
並行システムは逐次システムに比べてその全体の動作を把握することが難しい.そこで,並行システムが仕様を満たすことを判定するためのツールが利用されている.しかし,実際にはそのような仕様を記述することは,並行システムのモデル化よりも難しいことが多い.本報告書では,並行システムのモデルから仕様を自動生成するために,記号処理によって並行動作の逐次化と状態数削減をする手法を提案し,本手法を実装したツールについて報告する. |
| (英) |
It is difficult to understand the whole behavior of concurrent systems comparing with sequential systems. Therefore, model checkers or theorem provers are used for verifying whether a model of a concurrent system observationally equals a formal specification. However, describing such formal specifications is often more difficult than modeling systems. This paper presents methods to sequentialize concurrent behaviors and reduce the number of states based on a symbolic approach, for generating specifications, and shows an implementation of the methods. |
| キーワード |
(和) |
並行システム / 解析ツール / プロセス代数 / モデル検査 / 記号的意味論 / / / |
| (英) |
concurrent system / analysis tool / process algebra / model check / symbolic semantics / / / |
| 文献情報 |
信学技報, vol. 110, 2010年6月. |
| 資料番号 |
|
| 発行日 |
2010-06-14 (CAS, VLD, SIP, CST) |
| ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 |
著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) |
| PDFダウンロード |
CAS2010-25 VLD2010-35 SIP2010-46 CST2010-25 |
| 研究会情報 |
| 研究会 |
CAS MSS VLD SIP |
| 開催期間 |
2010-06-21 - 2010-06-22 |
| 開催地(和) |
北見工大 |
| 開催地(英) |
Kitami Institute of Technology |
| テーマ(和) |
システムと信号処理および一般 |
| テーマ(英) |
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| 講演論文情報の詳細 |
| 申込み研究会 |
MSS |
| 会議コード |
2010-06-CAS-CST-VLD-SIP |
| 本文の言語 |
日本語 |
| タイトル(和) |
並行システムを解析するための逐次化と状態削減機能の実装 |
| サブタイトル(和) |
仕様の自動生成を目指して |
| タイトル(英) |
An Implementation of Sequentialization and State-Reduction for Analyzing Concurrent Systems |
| サブタイトル(英) |
Towards Automatic Generation of Specifications |
| キーワード(1)(和/英) |
並行システム / concurrent system |
| キーワード(2)(和/英) |
解析ツール / analysis tool |
| キーワード(3)(和/英) |
プロセス代数 / process algebra |
| キーワード(4)(和/英) |
モデル検査 / model check |
| キーワード(5)(和/英) |
記号的意味論 / symbolic semantics |
| キーワード(6)(和/英) |
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| キーワード(7)(和/英) |
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| キーワード(8)(和/英) |
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| 第1著者 氏名(和/英/ヨミ) |
磯部 祥尚 / Yoshinao Isobe / イソベ ヨシナオ |
| 第1著者 所属(和/英) |
産業技術総合研究所 (略称: 産総研)
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (略称: AIST) |
| 第2著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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| 講演者 |
第1著者 |
| 発表日時 |
2010-06-22 13:20:00 |
| 発表時間 |
25分 |
| 申込先研究会 |
MSS |
| 資料番号 |
CAS2010-25, VLD2010-35, SIP2010-46, CST2010-25 |
| 巻番号(vol) |
vol.110 |
| 号番号(no) |
no.86(CAS), no.87(VLD), no.88(SIP), no.89(CST) |
| ページ範囲 |
pp.139-144 |
| ページ数 |
6 |
| 発行日 |
2010-06-14 (CAS, VLD, SIP, CST) |
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