講演抄録/キーワード |
講演名 |
2010-07-22 10:45
PMOS/NMOSのプロセスばらつきを独立に検出するためのリング型バッファチェインを用いたオンチップモニタ ○飯塚哲也・名倉 徹・浅田邦博(東大) ICD2010-24 エレソ技報アーカイブへのリンク:ICD2010-24 |
抄録 |
(和) |
本論文では、リング型バッファチェインとパルスカウンタを用いたプロセスばらつきモニタを提案し、その理論的解析を行う。提案回路ではリング型バッファチェイン内を伝搬するパルスの幅がリングを構成するバッファの立ち上がりおよび立ち下がり遅延時間に依存して変化する性質を利用し、そのパルスが消失するまでの回転数、およびパルス消失後のバッファ出力の極性をモニタすることでバッファの立ち上がり・立ち下り時間の差を検出できる。本提案回路を通常のリングオシレータによる周波数モニタと合わせて使用することで、バッファの立ち上がり・立ち下がり時間を算出することが可能であり、これによりPMOS とNMOS の性能ばらつきを独立にモニタすることを可能とする。本提案回路の性能評価について65nm CMOS プロセスでのシミュレーション結果を用いて示す。本提案回路はPMOS とNMOS の性能を独立にモニタできることから、NBTI やPBTI 等の経年劣化モニタとしても応用できる
可能性がある。 |
(英) |
In this paper, we propose an all-digital process variability monitor which utilizes a simple buffer ring with a pulse counter. The proposed circuit monitors the process variability according to a count number of a single pulse which propagates on the buffer ring and a fixed logic level after the pulse vanishes. Using the proposed circuit in combination with a simple ring oscillator which monitors its oscillation period, we can calculate the rise and fall delay values and can monitors the variabilities of PMOS and NMOS devices independently. The experimental results of the circuit simulation on 65nm CMOS process indicate the feasibility of the proposed monitoring circuit. The proposed monitoring technique is suitable not only for the on-chip process variability monitoring but also for the in-field monitoring of aging effects such as negative/positive bias temperature instability (NBTI/PBTI). |
キーワード |
(和) |
ばらつき / 経年劣化 / オンチップモニタ / リング型バッファチェイン / NBTI / PBTI / / |
(英) |
variability / aging effects / on-chip monitor / buffer ring / NBTI / PBTI / / |
文献情報 |
信学技報, vol. 110, no. 140, ICD2010-24, pp. 15-20, 2010年7月. |
資料番号 |
ICD2010-24 |
発行日 |
2010-07-15 (ICD) |
ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 |
著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) |
PDFダウンロード |
ICD2010-24 エレソ技報アーカイブへのリンク:ICD2010-24 |
研究会情報 |
研究会 |
ICD ITE-IST |
開催期間 |
2010-07-22 - 2010-07-23 |
開催地(和) |
常翔学園大阪センター |
開催地(英) |
Josho Gakuen Osaka Center |
テーマ(和) |
アナログ、アナデジ混載、RF及びセンサインタフェース回路 |
テーマ(英) |
Analog, Mixed analog and digital, RF, and sensor interface circuitry |
講演論文情報の詳細 |
申込み研究会 |
ICD |
会議コード |
2010-07-ICD-IST |
本文の言語 |
日本語 |
タイトル(和) |
PMOS/NMOSのプロセスばらつきを独立に検出するためのリング型バッファチェインを用いたオンチップモニタ |
サブタイトル(和) |
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タイトル(英) |
Buffer-Ring-Based All-Digital On-Chip Monitor for PMOS and NMOS Process Variability Effect |
サブタイトル(英) |
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キーワード(1)(和/英) |
ばらつき / variability |
キーワード(2)(和/英) |
経年劣化 / aging effects |
キーワード(3)(和/英) |
オンチップモニタ / on-chip monitor |
キーワード(4)(和/英) |
リング型バッファチェイン / buffer ring |
キーワード(5)(和/英) |
NBTI / NBTI |
キーワード(6)(和/英) |
PBTI / PBTI |
キーワード(7)(和/英) |
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キーワード(8)(和/英) |
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第1著者 氏名(和/英/ヨミ) |
飯塚 哲也 / Tetsuya Iizuka / イイヅカ テツヤ |
第1著者 所属(和/英) |
東京大学 (略称: 東大)
University of Tokyo (略称: Univ. of Tokyo) |
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) |
名倉 徹 / Toru Nakura / ナクラ トオル |
第2著者 所属(和/英) |
東京大学 (略称: 東大)
University of Tokyo (略称: Univ. of Tokyo) |
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) |
浅田 邦博 / Kunihiro Asada / アサダ クニヒロ |
第3著者 所属(和/英) |
東京大学 (略称: 東大)
University of Tokyo (略称: Univ. of Tokyo) |
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第5著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第10著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第12著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第13著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第18著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第19著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第20著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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講演者 |
第1著者 |
発表日時 |
2010-07-22 10:45:00 |
発表時間 |
25分 |
申込先研究会 |
ICD |
資料番号 |
ICD2010-24 |
巻番号(vol) |
vol.110 |
号番号(no) |
no.140 |
ページ範囲 |
pp.15-20 |
ページ数 |
6 |
発行日 |
2010-07-15 (ICD) |