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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2010-07-22 14:00 ［招待講演］デジタルアシスト・アナログテスト技術 ～ ナノCMOS時代のアナログ回路テスト技術 ～ ○小林春夫・山口隆弘（群馬大）  ICD2010-27 |
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| 抄録 | （和） | ここではミックストシグナルSoCのアナログ部のテストに関して 現状と問題点を示し,次の２つの内容について考察する.~ (i) アナログRF回路でデジタル自己校正, デジタル誤差補正 を用いて高性能化するデジタルアシストアナログ技術が微細CMOSを用いたSoC内で多用されつつある. この製造出荷時テスト法に関する考察を行う. ~ (ii) 微細CMOS SoC内ではDSPコア, メモリ等の豊富なデジタル回路を有する場合が多い.これを利用してSoC内アナログRF回路のテストを容易化する技術につい て考察する. |
| （英） | This paper reviews current production testing issues for analog and mixed-signal SoC, and discusses the following: (i) Digitally-assisted analog technology prevails in mixed-signal SoC with fine CMOS which uses digital-rich architecture, digital self-calibration and error corrction, and we consider their effective production testing. (ii) Mixed-signal SoCs frequently incorporate digital resources such as DSP cores and memory. We discuss how such resources can be utilized to simplify production testing of the analog RF circuitry in the SoC. |
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| キーワード | （和） | デジタルアシスト・アナログ技術 / デジタルアシスト・アナログテスト技術 / テスト容易化 / 自己校正 / デジタル誤差補正 / / / |
| （英） | Digitally-Assisted Analog Technology / Digitally-Assisted Analog Test Technology / Design for Testability / Self-Calibration / Digital Error Correction / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 110, no. 140, ICD2010-27, pp. 37-42, 2010年7月. | |
| 資料番号 | ICD2010-27 | |
| 発行日 | 2010-07-15 (ICD) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | ICD2010-27 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | ICD ITE-IST |
| 開催期間 | 2010-07-22 - 2010-07-23 |
| 開催地（和） | 常翔学園大阪センター |
| 開催地（英） | Josho Gakuen Osaka Center |
| テーマ（和） | アナログ、アナデジ混載、RF及びセンサインタフェース回路 |
| テーマ（英） | Analog, Mixed analog and digital, RF, and sensor interface circuitry |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | ICD |
| 会議コード | 2010-07-ICD-IST |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | デジタルアシスト・アナログテスト技術 |
| サブタイトル（和） | ナノCMOS時代のアナログ回路テスト技術 |
| タイトル（英） | Digitally-Assisted Analog Test Technology |
| サブタイトル（英） | Analog Circuit Test Technology in Nano-CMOS Era |
| キーワード(1)（和/英） | デジタルアシスト・アナログ技術 / Digitally-Assisted Analog Technology |
| キーワード(2)（和/英） | デジタルアシスト・アナログテスト技術 / Digitally-Assisted Analog Test Technology |
| キーワード(3)（和/英） | テスト容易化 / Design for Testability |
| キーワード(4)（和/英） | 自己校正 / Self-Calibration |
| キーワード(5)（和/英） | デジタル誤差補正 / Digital Error Correction |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 小林 春夫 / Haruo Kobayashi / コバヤシ ハルオ |
| 第1著者 所属（和/英） | 群馬大学 (略称： 群馬大) Gunma University (略称： Gunma Univ.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 山口 隆弘 / Takahiro J. Yamaguchi / ヤマグチ タカヒロ |
| 第2著者 所属（和/英） | 群馬大学 (略称： 群馬大) Gunma University (略称： Gunma Univ.) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2010-07-22 14:00:00 |
| 発表時間 | 50分 |
| 申込先研究会 | ICD |
| 資料番号 | ICD2010-27 |
| 巻番号（vol） | vol.110 |
| 号番号（no） | no.140 |
| ページ範囲 | pp.37-42 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2010-07-15 (ICD) |
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