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| 講演名 | 2010-07-23 13:25 高符号化率までパンクチャ可能なLDPC符号に関する一考察 ○長田佳史・寺本賢一・細谷 剛・後藤正幸（早大）  IT2010-28 |
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| 抄録 | （和） | 本研究では，高い符号化率まで可変な LDPC (RCP-LDPC) 符号を構成するための効果的なパンクチャドビットの選択法を提案する．J.Ha らの復元レベルに基づくパンクチャドビットの選択法では，優れた復号性能をもつ RCP-LDPC 符号を構成できるが高い符号化率までパンクチャできない．そこで Ha らの手法に加え，ピボットと呼ばれる符号語ビットを置換する手法を応用することで高い符号化率までパンクチャ可能となる．しかしパンクチャドビットの復元レベルが急激に増加してしまい，復号性能を劣化させてしまう．そこで本研究では，復号性能をなるべく劣化させずに高い符号化率までパンクチャできるようにするため検査行列の構造を利用した評価関数を導入し，復元レベルを小さく抑えるパンクチャドビットの選択法を提案する．また計算機シミュレーションによる実験結果から，提案した手法によって符号化率が可変な範囲は大きく，復号性能が良好な符号が得られることを示す． |
| （英） | In this study, we propose a new method of selecting punctured bit positions for rate-compatible punctured low-density parity-check (RCP-LDPC) codes with high coding rate. Though J.Ha's previous method can produce RCP-LDPC codes with high decoding performance, their performance in terms of rate adaptability are limited. The proposed method, which performs after Ha's method terminates, is an additional one by selecting the punctured bit positions based on `pivot'. According to process with the above guideline, the method may produce RCP-LDPC codes with a high number of recoverability which is not good for the performance of the codes. To prevent the increment of recoverability, the proposed method selects the punctured bits based on the structure of LDPC check matrices and the cost function for each bit which is introduced in this study. We show by simulation results that both the number of punctured bits and decoding performance of the codes obtained by the proposed method are better than that obtained by the other methods. | |
| キーワード | （和） | 低密度パリティ検査符号 / パンクチャ / RCP-LDPC 符号 / BP 復号法 / / / / |
| （英） | LDPC code / puncture / RCP-LDPC code / BP decoding algorithm / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 110, no. 137, IT2010-28, pp. 95-100, 2010年7月. | |
| 資料番号 | IT2010-28 | |
| 発行日 | 2010-07-15 (IT) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | IT2010-28 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | IT |
| 開催期間 | 2010-07-22 - 2010-07-23 |
| 開催地（和） | 工学院大学 |
| 開催地（英） | Kogakuin University |
| テーマ（和） | フレッシュマンセッション，一般 |
| テーマ（英） | |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | IT |
| 会議コード | 2010-07-IT |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 高符号化率までパンクチャ可能なLDPC符号に関する一考察 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | A Note on a Puncturing Method for LDPC Codes with High Coding Rate |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | 低密度パリティ検査符号 / LDPC code |
| キーワード(2)（和/英） | パンクチャ / puncture |
| キーワード(3)（和/英） | RCP-LDPC 符号 / RCP-LDPC code |
| キーワード(4)（和/英） | BP 復号法 / BP decoding algorithm |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 長田 佳史 / Keishi Osada / オサダ ケイシ |
| 第1著者 所属（和/英） | 早稲田大学 (略称： 早大) Waseda University (略称： Waseda Univ.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 寺本 賢一 / Kenichi Teramoto / テラモト ケンイチ |
| 第2著者 所属（和/英） | 早稲田大学 (略称： 早大) Waseda University (略称： Waseda Univ.) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 細谷 剛 / Gou Hosoya / ホソヤ ゴウ |
| 第3著者 所属（和/英） | 早稲田大学 (略称： 早大) Waseda University (略称： Waseda Univ.) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 後藤 正幸 / Masayuki Goto / ゴトウ マサユキ |
| 第4著者 所属（和/英） | 早稲田大学 (略称： 早大) Waseda University (略称： Waseda Univ.) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2010-07-23 13:25:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | IT |
| 資料番号 | IT2010-28 |
| 巻番号（vol） | vol.110 |
| 号番号（no） | no.137 |
| ページ範囲 | pp.95-100 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2010-07-15 (IT) |
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