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講演抄録/キーワード
講演名 2010-08-26 09:20
ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 ~ 加振機構のモデリング(9) ~
和田真一越田圭治サインダー ノロブリン小田部正能久保田洋彰TMCシステム)・澤 孝一郎日本工大EMD2010-26 CPM2010-42 OPE2010-51 LQE2010-24 エレソ技報アーカイブへのリンク:EMD2010-26 CPM2010-42 OPE2010-51 LQE2010-24
抄録 (和) 電気接点に実用的振動を与えうるハンマリング加振機構を開発し,微小振動が接触抵抗に与える影響を考察できる可能性を検討してきた.時空間領域において,基板に対して,外力として単位ステップ関数の組み合わせを使用した平板における連続体近似モデルを構築し,実験結果と比較しうる可能性を示唆した.また,コネクタにおける摩擦力および慣性力を考慮した簡単なモデル化を行い,実験値との対応を検討し,接点における時系列振動を解析し,さらに電気接点における劣化現象を説明しうる可能性を示唆した.初期条件・境界条件を考慮してこれらのモデルを用いることで変位・加速度・力学的エネルギーなどの基本的な力学量に関する考察を行いうる可能性を示唆した. 
(英) The authors have developed the mechanism which gives vibration to electrical contacts by hammering oscillation and studied the influences of a micro-oscillation on the contacts. In time & space fields, by combinations of unit step functions as external force, it was suggested that mathematical approach was able to be compared with experimental data using continuous approximation to a thin plate. In consideration of friction force & inertial force generated in connectors it was suggested that another model was able to be compared with experimental data and to explain the time series oscillation on the electrical contacts and the degradation phenomenon of electrical contacts. By making use of these models and by initial & boundary conditions, it was suggested that the approximate estimation of fundamental mechanical quantities, such as displacement, acceleration and mechanical energy was able to be carried out.
キーワード (和) 電気接点 / 劣化現象 / ハンマリング加振機構 / 微小振動 / 摩擦力 / 慣性力 / 数理モデル /  
(英) electrical contact / degradation phenomenon / hammering oscillating mechanism / micro-oscillation / frictional force / inertial force / mathematical model /  
文献情報 信学技報, vol. 110, no. 178, EMD2010-26, pp. 1-6, 2010年8月.
資料番号 EMD2010-26 
発行日 2010-08-19 (EMD, CPM, OPE, LQE) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685  Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
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技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード EMD2010-26 CPM2010-42 OPE2010-51 LQE2010-24 エレソ技報アーカイブへのリンク:EMD2010-26 CPM2010-42 OPE2010-51 LQE2010-24

研究会情報
研究会 EMD OPE LQE CPM  
開催期間 2010-08-26 - 2010-08-27 
開催地(和) 千歳アルカディアプラザ 
開催地(英) Chitose Arcadia Plaza 
テーマ(和) 光部品・電子デバイス実装技術、一般 
テーマ(英)  
講演論文情報の詳細
申込み研究会 EMD 
会議コード 2010-08-EMD-OPE-LQE-CPM 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 
サブタイトル(和) 加振機構のモデリング(9) 
タイトル(英) Degradation phenomenon of electrical contacts by hammering oscillating mechanism 
サブタイトル(英) modeling of the oscillating mechanism (9) 
キーワード(1)(和/英) 電気接点 / electrical contact  
キーワード(2)(和/英) 劣化現象 / degradation phenomenon  
キーワード(3)(和/英) ハンマリング加振機構 / hammering oscillating mechanism  
キーワード(4)(和/英) 微小振動 / micro-oscillation  
キーワード(5)(和/英) 摩擦力 / frictional force  
キーワード(6)(和/英) 慣性力 / inertial force  
キーワード(7)(和/英) 数理モデル / mathematical model  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 和田 真一 / Shin-ichi Wada / ワダ シンイチ
第1著者 所属(和/英) TMCシステム (略称: TMCシステム)
TMC System co. jp. (略称: TMC)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 越田 圭治 / Keiji Koshida / コシダ ケイジ
第2著者 所属(和/英) TMCシステム (略称: TMCシステム)
TMC System co. jp. (略称: TMC)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) サインダー ノロブリン / Saindaa Norovling / サインダー ノロブリン
第3著者 所属(和/英) TMCシステム (略称: TMCシステム)
TMC System co. jp. (略称: TMC)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 小田部 正能 / Masayoshi Kotabe / コタベ マサヨシ
第4著者 所属(和/英) TMCシステム (略称: TMCシステム)
TMC System co. jp. (略称: TMC)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) 久保田 洋彰 / Hiroaki Kubota / クボタ ヒロアキ
第5著者 所属(和/英) TMCシステム (略称: TMCシステム)
TMC System co. jp. (略称: TMC)
第6著者 氏名(和/英/ヨミ) 澤 孝一郎 / Koichiro Sawa / サワ コウイチロウ
第6著者 所属(和/英) 日本工業大学 (略称: 日本工大)
Nippon Institute of Thechnology (略称: Nippon Inst. of Thech.)
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講演者 第1著者 
発表日時 2010-08-26 09:20:00 
発表時間 25分 
申込先研究会 EMD 
資料番号 EMD2010-26, CPM2010-42, OPE2010-51, LQE2010-24 
巻番号(vol) vol.110 
号番号(no) no.178(EMD), no.179(CPM), no.180(OPE), no.181(LQE) 
ページ範囲 pp.1-6 
ページ数
発行日 2010-08-19 (EMD, CPM, OPE, LQE) 


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