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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2010-10-19 11:30 Nb-AlOx-Nbジョセフソン接合における臨界電流値バラツキの解析 ○日野出憲治・佐藤哲朗・永沢秀一・日高睦夫（国際超電導産技研センター）  SCE2010-27 |
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| 抄録 | （和） | Nb-AlOx-Nbジョセフソン接合(JJ)の超電導臨界電流値（Ic）バラツキを検討した。1000個の接合を直列接続したテスト回路を用いた低温でのI-V特性、１つの接合の４端子回路を用いた室温での接合抵抗を測定した。室温接合抵抗値は、リソグラフィーとエッチング等の製造工程起因のJJ面積バラツキから通常予想される依存性を示した。低温のI-Vカーブから算出したIc値のバラツキは、JJ面積バラツキに起因する成分に、測定時のノイズに起因する成分が合成されたものと考えられる。相対バラツキ(Ic/Ic)でみると、JJ面積バラツキに起因する成分は、臨界電流密度(Jc)には依存せず、JJ面積の平方根(正方形JJなら辺長)に逆比例し、微細接合ほど大きくなる。ノイズ起因のバラツキ成分は近似的に接合抵抗に比例の依存性を持つため、微細化による増大の程度は面積バラツキによるものより強い。 |
| （英） | We studied the spread of the critical current (Ic) for Nb-AlOx-Nb Josephson junctions. Room temperature measurements for the junction resistance gave the reasonable dependence of the JJ area. Low temperature measurements of IV characteristics for serial JJ arrays gave the Ic spreads consisting of two components, one is the JJ area component and the other is originated from the noise of the measurement system and test circuits. We proposed the model explaining the noise-origin Ic spread. Estimation based on the model showed good agreement with the measured JJ-size dependence. | |
| キーワード | （和） | ニオブ / ジョセフソン接合 / 臨界電流値 / SFQ / バラツキ / JJ面積 / ノイズ / |
| （英） | niobium / Josephson junction / critical current / SFQ / critical current spread / JJ area / noise / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 110, no. 235, SCE2010-27, pp. 19-24, 2010年10月. | |
| 資料番号 | SCE2010-27 | |
| 発行日 | 2010-10-12 (SCE) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | SCE2010-27 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | SCE |
| 開催期間 | 2010-10-19 - 2010-10-19 |
| 開催地（和） | 機械振興会館 |
| 開催地（英） | Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. |
| テーマ（和） | 超伝導エレクトロニクス基盤技術及び一般 |
| テーマ（英） | Fundamental Technologies for Superconducting Electronics, etc. |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | SCE |
| 会議コード | 2010-10-SCE |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | Nb-AlOx-Nbジョセフソン接合における臨界電流値バラツキの解析 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Analysis on Critical Current Spread of Nb-AlOx-Nb Josephson Junctions |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | ニオブ / niobium |
| キーワード(2)（和/英） | ジョセフソン接合 / Josephson junction |
| キーワード(3)（和/英） | 臨界電流値 / critical current |
| キーワード(4)（和/英） | SFQ / SFQ |
| キーワード(5)（和/英） | バラツキ / critical current spread |
| キーワード(6)（和/英） | JJ面積 / JJ area |
| キーワード(7)（和/英） | ノイズ / noise |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 日野出 憲治 / Kenji Hinode / ヒノデ ケンジ |
| 第1著者 所属（和/英） | (財)国際超電導産業技術研究センター (略称： 国際超電導産技研センター) International Superconductivity Technology Center (略称： ISTEC) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 佐藤 哲朗 / Tetsuro Satoh / サトウ テツロウ |
| 第2著者 所属（和/英） | (財)国際超電導産業技術研究センター (略称： 国際超電導産技研センター) International Superconductivity Technology Center (略称： ISTEC) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 永沢 秀一 / Shuichi Nagasawa / ナガサワ シュウイチ |
| 第3著者 所属（和/英） | (財)国際超電導産業技術研究センター (略称： 国際超電導産技研センター) International Superconductivity Technology Center (略称： ISTEC) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 日高 睦夫 / Mutsuo Hidaka / ヒダカ ムツオ |
| 第4著者 所属（和/英） | (財)国際超電導産業技術研究センター (略称： 国際超電導産技研センター) International Superconductivity Technology Center (略称： ISTEC) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2010-10-19 11:30:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | SCE |
| 資料番号 | SCE2010-27 |
| 巻番号（vol） | vol.110 |
| 号番号（no） | no.235 |
| ページ範囲 | pp.19-24 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2010-10-12 (SCE) |
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