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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2010-10-22 11:00 変調散乱素子を用いた電界計測における散乱波振幅の校正法 ○黒澤孝裕・駒木根隆士（秋田県産技総研センター）  EMCJ2010-65 MW2010-100 |
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| 抄録 | （和） | 変調散乱素子を用いた電界強度測定において，周囲環境からの反射等の影響によっ て変動する変調散乱波の振幅を校正する手法について検討した． 誘電体円柱を機械回転させた変調散乱素子を用い，対数周期アンテナを模擬供試 機器として散乱波振幅の校正値を取得し，また，この供試機器が発生する電界 強度を推定した． 測定された校正値には，床面反射や供試機器自体からの反射の影響が観測された． この校正値に基づいて電界測定時に観測される散乱波振幅を補正することで， 周囲環境による散乱波の反射や回折等，多重伝搬による干渉の影響を低減でき， より高精度な電界測定が可能となった． |
| （英） | A calibration method on electric field measurement system with modulated scattering technique is developed. By using rotating di-electric cylinder as modulated scatterer and log-periodic dipole array antenna as an equipment under test(EUT), calibration coefficient was measured. The dependence of calibration coefficient on scatterer position shows the multipath interference of scattered waves such as floor reflection and the reflection of EUT. Electric field of the EUT can be measured by using modulated scattering technique and this calibration method with good accuracy. |
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| キーワード | （和） | 電界計測 / 変調散乱 / 校正 / 電磁環境両立性 / 電波暗室 / / / |
| （英） | Electric field measurement / Modulated scatterer / Calibration / EMC / Anechoic chamber / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 110, no. 236, EMCJ2010-65, pp. 77-80, 2010年10月. | |
| 資料番号 | EMCJ2010-65 | |
| 発行日 | 2010-10-14 (EMCJ, MW) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | EMCJ2010-65 MW2010-100 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | MW EMCJ |
| 開催期間 | 2010-10-21 - 2010-10-22 |
| 開催地（和） | 秋田大学 |
| 開催地（英） | Akita Univ. |
| テーマ（和） | マイクロ波，EMC，一般 (マイクロ波シミュレータ研究会協賛) |
| テーマ（英） | Microwave Technologies, EMC, etc. |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | EMCJ |
| 会議コード | 2010-10-EMCJ-MW |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 変調散乱素子を用いた電界計測における散乱波振幅の校正法 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Amplitude Calibration on Electric Field Measurement with Modulated Scatterer |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | 電界計測 / Electric field measurement |
| キーワード(2)（和/英） | 変調散乱 / Modulated scatterer |
| キーワード(3)（和/英） | 校正 / Calibration |
| キーワード(4)（和/英） | 電磁環境両立性 / EMC |
| キーワード(5)（和/英） | 電波暗室 / Anechoic chamber |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 黒澤 孝裕 / Takahiro Kurosawa / クロサワ タカヒロ |
| 第1著者 所属（和/英） | 秋田県産業技術総合研究センター (略称： 秋田県産技総研センター) Akita Prefectural R&D Center (略称： ARDC) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 駒木根 隆士 / Takashi Komakine / コマキネ タカシ |
| 第2著者 所属（和/英） | 秋田県産業技術総合研究センター (略称： 秋田県産技総研センター) Akita Prefectural R&D Center (略称： ARDC) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2010-10-22 11:00:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | EMCJ |
| 資料番号 | EMCJ2010-65, MW2010-100 |
| 巻番号（vol） | vol.110 |
| 号番号（no） | no.236(EMCJ), no.237(MW) |
| ページ範囲 | pp.77-80 |
| ページ数 | 4 |
| 発行日 | 2010-10-14 (EMCJ, MW) |
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