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講演抄録/キーワード
講演名 2010-10-29 15:30
端面コーティング改善によるAlGaInAsレーザの高信頼性化
市川弘之福田智恵松川真治生駒暢之住友電工OCS2010-83 OPE2010-119 LQE2010-92
抄録 (和) 光通信波長帯に対応したAlGaInAsレーザは、光通信システムの光源として幅広く用いられているGaInAsPレーザと比較して高速変調・高温動作に優れた特徴を持つ。これまで我々は、このAlGaInAsレーザの信頼性を精査し、順方向ESD試験での劣化と、加速劣化試験と名付けた高電流通電試験での劣化が課題であることを示唆してきた。これらの劣化はどちらもレーザ端面の活性層で生じることが判明しており、端面コーティングの改善により両劣化の抑制を図った。順方向ESD試験では、CODと同様に端面の活性層において光吸収による溶解が生じる。そこで、端面コーティング直前にAl薄膜を端面に堆積するパッシベーションを適用した。酸素雰囲気中で端面コーティングを成膜する際に、端面が酸化されるのをAl薄膜により防ぐことを意図したものである。このパッシベーションの適用により、ESD試験電圧1kVの累積劣化率は40%から0%に低減する結果を得た。一方、加速劣化試験では、絶対定格電流を超えた200mAの高電流下で、環境温度85℃にて800hの通電試験を行った。加速劣化試験では、端面の活性層を覆う転位網が形成される。転位網の形成に寄与すると考えられる格子間原子の拡散を抑えるため、格子間距離を縮めるように200MPaの圧縮応力を持つ端面コーティングを適用した。この端面コーティングの適用により、加速劣化試験の劣化率は5%から0%に低減する結果を得た。以上の端面コーティング改善の検討により、AlGaInAsレーザの信頼性上の課題であったESD試験と加速劣化試験での劣化を抑制でき、高信頼性化を図ることに成功した。 
(英) AlGaInAs lasers are suitable for element devices of optical communication systems. However, degradations in forward-biased ESD tests and accelerated aging tests were found. Since both degradations occurred at the facet of the laser, we improved facet-coating processes. In forward-biased ESD tests, we introduced a passivation of an Al ultrathin layer just before facet-coating. The Al ultrathin layer prevents oxidation of the facet from oxygen atmosphere. The degradation ratio of 1 kV ESD tests was decreased from 40% to 0% by introducing the passivation. In accelerated aging tests of 200 mA at 85℃, we introduced facet-coating with compressive strain. This degradation differed completely from that caused by ESD; dislocation loops covered the entire active layer at the facet. The degradation ratio of 800 h aging was decreased from 5% to 0% by introducing the compressively strained facet-coating.
キーワード (和) AlGaInAs / レーザ / 端面コーティング / ESD / 信頼性 / / /  
(英) AlGaInAs / Laser / Facet-coating / ESD / Reliability / / /  
文献情報 信学技報, vol. 110, no. 259, LQE2010-92, pp. 157-162, 2010年10月.
資料番号 LQE2010-92 
発行日 2010-10-21 (OCS, OPE, LQE) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685    Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード OCS2010-83 OPE2010-119 LQE2010-92

研究会情報
研究会 LQE OPE OCS  
開催期間 2010-10-28 - 2010-10-29 
開催地(和) 門司港レトロ・港ハウス 
開催地(英) Mojiko Retro Town, Minato house 
テーマ(和) 超高速伝送・変復調・分散補償技術、超高速光信号処理技術、広帯域光増幅・WDM技術、受光デバイス、高光出力伝送技術、一般 (ECOC報告) 
テーマ(英) Ultrafast transmission,signal processing/modulation-demodulation/wideband amplification,WDM technology/light emitting-receiving device/high power light delivery/etc(report on ECOC) 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 LQE 
会議コード 2010-10-LQE-OPE-OCS 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 端面コーティング改善によるAlGaInAsレーザの高信頼性化 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) High Reliable AlGaInAs Lasers by Improved Facet-Coating Processes 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) AlGaInAs / AlGaInAs  
キーワード(2)(和/英) レーザ / Laser  
キーワード(3)(和/英) 端面コーティング / Facet-coating  
キーワード(4)(和/英) ESD / ESD  
キーワード(5)(和/英) 信頼性 / Reliability  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 市川 弘之 / Hiroyuki Ichikawa / イチカワ ヒロユキ
第1著者 所属(和/英) 住友電気工業 (略称: 住友電工)
Sumitomo Electric Industries, Ltd. (略称: SEI)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 福田 智恵 / Chie Fukuda / フクダ チエ
第2著者 所属(和/英) 住友電気工業 (略称: 住友電工)
Sumitomo Electric Industries, Ltd. (略称: SEI)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 松川 真治 / Shinji Matsukawa / マツカワ シンジ
第3著者 所属(和/英) 住友電気工業 (略称: 住友電工)
Sumitomo Electric Industries, Ltd. (略称: SEI)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 生駒 暢之 / Nobuyuki Ikoma / イコマ ノブユキ
第4著者 所属(和/英) 住友電気工業 (略称: 住友電工)
Sumitomo Electric Industries, Ltd. (略称: SEI)
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講演者 第1著者 
発表日時 2010-10-29 15:30:00 
発表時間 25分 
申込先研究会 LQE 
資料番号 OCS2010-83, OPE2010-119, LQE2010-92 
巻番号(vol) vol.110 
号番号(no) no.257(OCS), no.258(OPE), no.259(LQE) 
ページ範囲 pp.157-162 
ページ数
発行日 2010-10-21 (OCS, OPE, LQE) 


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