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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2010-11-05 15:30 ［ポスター講演］2クラス識別のためのMAP推定に基づく二次制約評価基準 ○横田達也・山下幸彦（東工大）  IBISML2010-85 |
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| 抄録 | （和） | MAP 推定に基づくパターン識別では，一般的には，未知パターンが与えられたとき，まず各カテゴリの 事後確率を計算し，その中で最も事後確率が高いカテゴリを選ぶ．しかし，事後確率の計算にはモデルの複雑さの選 択，計算量，事前分布の与え方などの様々な問題が存在する．本論文では，事後確率の計算をせずにMAP 推定に基 づいた2 値識別を実現するため，MAP 推定に基づく識別関数の新しい評価基準を定義し，その基準に基づいた新し い識別器の構成法を提案する．また，提案手法の計算機実験を行い，その結果をもとに性能や特徴などを既存の手法 と比較検討する．提案する評価基準は，目的関数の最大化と重み関数に依存する二次制約で構成され，識別関数モデ ルと重み関数を自由に与えることができる．そのため，事後確率を推定する従来の手法よりも，モデルの自由度を広 げることができる． |
| （英） | In this paper we propose a new criterion of classi er based on maximum a posteriori (MAP) for a binary problem without estimating the posterior probability. In the method, not the posteriori probability but a discriminant function that provides the same result with a MAP classi er is estimated directly. Its criterion consists of the maximization of expectation of a cost function and a quadratic constraint of the discriminant function. The goal of this paper is to propose a novel classi er based on the criterion and to conduct experiments its classi er to show its advantage. |
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| キーワード | （和） | パターン認識 / MAP推定 / 二次制約 / / / / / |
| （英） | pattern classification / maximum a posteriori estimation / quadratic constraint / / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 110, no. 265, IBISML2010-85, pp. 187-194, 2010年11月. | |
| 資料番号 | IBISML2010-85 | |
| 発行日 | 2010-10-28 (IBISML) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | IBISML2010-85 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | IBISML |
| 開催期間 | 2010-11-04 - 2010-11-06 |
| 開催地（和） | 東大生産研 |
| 開催地（英） | IIS, Univ. of Tokyo |
| テーマ（和） | IBIS 2010 (情報論的学習理論ワークショップ) |
| テーマ（英） | IBIS 2010 (Workshop on Information-based Induction Sciences) |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | IBISML |
| 会議コード | 2010-11-IBISML |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 2クラス識別のためのMAP推定に基づく二次制約評価基準 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | A New Quadratically Constrained Criterion based on Maximum a Posteriori Estimation for Binary Classifier |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | パターン認識 / pattern classification |
| キーワード(2)（和/英） | MAP推定 / maximum a posteriori estimation |
| キーワード(3)（和/英） | 二次制約 / quadratic constraint |
| キーワード(4)（和/英） | / |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 横田 達也 / Tatsuya Yokota / ヨコタ タツヤ |
| 第1著者 所属（和/英） | 東京工業大学 (略称： 東工大) Tokyo Institute of Technology (略称： Titech) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 山下 幸彦 / Yukihiko Yamashita / ヤマシタ ユキヒコ |
| 第2著者 所属（和/英） | 東京工業大学 (略称： 東工大) Tokyo Institute of Technology (略称： Titech) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | / / |
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| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2010-11-05 15:30:00 |
| 発表時間 | 180分 |
| 申込先研究会 | IBISML |
| 資料番号 | IBISML2010-85 |
| 巻番号（vol） | vol.110 |
| 号番号（no） | no.265 |
| ページ範囲 | pp.187-194 |
| ページ数 | 8 |
| 発行日 | 2010-10-28 (IBISML) |
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