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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2010-11-12 11:00 Surface Analyses of W-Based Composite Materials Containing Solid Lubricants for Sliding Electrical Contacts by AFM and EPMA Yoshitada Watanabe・○Masaomi Arai（Kogakuin Univ.）  EMD2010-106 |
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| 抄録 | （和） | Sliding tests were performed on three kinds of W-based composite materials containing solid lubricant for electric sliding contacts, and the sliding surfaces were observed under an atomic force microscope (AFM) in tapping mode, and under a surface potential microscope (SPoM) and an electron probe micro analyzer (EPMA). Next, three-dimensional surface analysis was conducted on the conductive metal distribution and contact-spot level difference distribution, and it was found that the spot conductive portions that were large in level difference and near the electrode on the other side were lower in the surface potential. It was also found under EPMA that the grayscale pictures of the sliding surfaces showed the distribution of both conductive metals and transferred elements. |
| （英） | Sliding tests were performed on three kinds of W-based composite materials containing solid lubricant for electric sliding contacts, and the sliding surfaces were observed under an atomic force microscope (AFM) in tapping mode, and under a surface potential microscope (SPoM) and an electron probe micro analyzer (EPMA). Next, three-dimensional surface analysis was conducted on the conductive metal distribution and contact-spot level difference distribution, and it was found that the spot conductive portions that were large in level difference and near the electrode on the other side were lower in the surface potential. It was also found under EPMA that the grayscale pictures of the sliding surfaces showed the distribution of both conductive metals and transferred elements. | |
| キーワード | （和） | Solid lubricant / Composite material / Atomic force microscope / Surface potential microscope / Electron probe micro analyzer / / / |
| （英） | Solid lubricant / Composite material / Atomic force microscope / Surface potential microscope / Electron probe micro analyzer / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 110, no. 270, EMD2010-106, pp. 163-166, 2010年11月. | |
| 資料番号 | EMD2010-106 | |
| 発行日 | 2010-11-04 (EMD) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | EMD2010-106 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | EMD |
| 開催期間 | 2010-11-11 - 2010-11-12 |
| 開催地（和） | 西安交通大学（中国、西安） |
| 開催地（英） | Xi'an Jiaotong University |
| テーマ（和） | IS-EMD2010（機構デバイス研究会第10回国際セッション） |
| テーマ（英） | IS-EMD2010 (10th International Session in Electro-Mechanical Devices) |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | EMD |
| 会議コード | 2010-11-EMD |
| 本文の言語 | 英語 |
| タイトル（和） | |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Surface Analyses of W-Based Composite Materials Containing Solid Lubricants for Sliding Electrical Contacts by AFM and EPMA |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | Solid lubricant / Solid lubricant |
| キーワード(2)（和/英） | Composite material / Composite material |
| キーワード(3)（和/英） | Atomic force microscope / Atomic force microscope |
| キーワード(4)（和/英） | Surface potential microscope / Surface potential microscope |
| キーワード(5)（和/英） | Electron probe micro analyzer / Electron probe micro analyzer |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 渡辺 克忠 / Yoshitada Watanabe / ワタナベ ヨシタダ |
| 第1著者 所属（和/英） | 工学院大学 (略称： 工学院大) Kogakuin University (略称： Kogakuin Univ.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 新井 正臣 / Masaomi Arai / アライ マサオミ |
| 第2著者 所属（和/英） | 工学院大学 (略称： 工学院大) Kogakuin University (略称： Kogakuin Univ.) |
| 講演者 | 第2著者 |
| 発表日時 | 2010-11-12 11:00:00 |
| 発表時間 | 15分 |
| 申込先研究会 | EMD |
| 資料番号 | EMD2010-106 |
| 巻番号（vol） | vol.110 |
| 号番号（no） | no.270 |
| ページ範囲 | pp.163-166 |
| ページ数 | 4 |
| 発行日 | 2010-11-04 (EMD) |
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