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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2010-11-25 13:00 銅張誘電体積層基板の界面導電率の周波数依存性測定 常光理志（埼玉大）・○小林禧夫（サムテック）・馬 哲旺（埼玉大）  MW2010-105 |
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| 抄録 | （和） | 従来，銅張誘電体積層基板の界面比導電率rbの測定は，5~20GHzの周波数帯で種々の誘電体円柱共振器を用いて行われてきた．本報告では5GHz以下で測定する方法を検討する．まず，2誘電体共振器法により，寸法の異なるペアの標準誘電体円柱を用いて標準銅板の5~22GHzにおける周波数依存性を測定した．この結果より1.6~2.5GHzにおける界面比導電率測定に用いる4個の高誘電率セラミック誘電体円柱の誘電正接を決定した．これらの測定結果を基に，MIC型誘電体共振器法により，2種類の銅張誘電体基板について1.6~20GHzにわたるrbの周波数依存性の測定を行い，良好な結果を得た． |
| （英） | The interface conductivity of copper-clad dielectric laminated substrates has been measured so far by the dielectric resonator method in the frequency range 5~20 GHz. This paper discusses the measurements below 5 GHz. At first the frequency dependence of the effective conductivity of two standard copper plates is measured by the two dielectric resonator method. Using the measured results, we measured the loss tangents of four high permittivity ceramic rods in 1.6~2.5 GHz. As a result, the frequency dependence measurements of copper-clad dielectric laminated substrates in the frequency range 1.6~20 GHz were performed successfully. | |
| キーワード | （和） | 銅張誘電体基板 / 導電率測定 / マイクロ波測定 / / / / / |
| （英） | copper-clad dielectric laminated substrate / conductivity measurement / microwave / / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 110, no. 307, MW2010-105, pp. 1-6, 2010年11月. | |
| 資料番号 | MW2010-105 | |
| 発行日 | 2010-11-18 (MW) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | MW2010-105 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | MW |
| 開催期間 | 2010-11-25 - 2010-11-26 |
| 開催地（和） | 沖縄県男女共同参画センター「てぃるる」 |
| 開催地（英） | Tiruru |
| テーマ（和） | マイクロ波一般 |
| テーマ（英） | |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | MW |
| 会議コード | 2010-11-MW |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 銅張誘電体積層基板の界面導電率の周波数依存性測定 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Frequency dependence measurements of interface conductivity of copper-clad dielectric laminated substrates |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | 銅張誘電体基板 / copper-clad dielectric laminated substrate |
| キーワード(2)（和/英） | 導電率測定 / conductivity measurement |
| キーワード(3)（和/英） | マイクロ波測定 / microwave |
| キーワード(4)（和/英） | / |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 常光 理志 / Masayuki Tsunemitsu / ツネミツ マサユキ |
| 第1著者 所属（和/英） | 埼玉大学 (略称： 埼玉大) Saitama University (略称： Saitama Univ.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 小林 禧夫 / Yoshio Kobayashi / コバヤシ ヨシオ |
| 第2著者 所属（和/英） | サムテック有限会社 (略称： サムテック) SUMTEC, Inc. (略称： SUMTEC, Inc.) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 馬 哲旺 / Zhewang Ma / |
| 第3著者 所属（和/英） | 埼玉大学 (略称： 埼玉大) Saitama University (略称： Saitama Univ.) |
| 講演者 | 第2著者 |
| 発表日時 | 2010-11-25 13:00:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | MW |
| 資料番号 | MW2010-105 |
| 巻番号（vol） | vol.110 |
| 号番号（no） | no.307 |
| ページ範囲 | pp.1-6 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2010-11-18 (MW) |
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