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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2010-11-29 15:25 スキャンBISTにおけるマルチサイクルテストと部分観測方式の提案と評価 ○山口久登・松薗 誠・佐藤康夫・梶原誠司（九工大/JST）  VLD2010-61 DC2010-28 |
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| 抄録 | （和） | フィールドでの自己テスト(BIST)ではテストパターン情報をチップ内に保持する必要があるため，テストデータ量を極力少なくすることが重要である．本研究では，スキャンベースのBIST構造における故障検出率向上とテストデータ量削減を目的に，各テストパターンに対して複数回のキャプチャクロック発生によるマルチサイクルテストを行い，各回のクロックでフリップフロップにキャプチャされた値を部分的に観測可能にすることで，通常のスキャンベースBISTよりもテスト性を向上する構造を提案する．観測するフリップフロップの選択方法およびそれらの数と検出率向上効果の相関関係を報告する． |
| （英） | Reducing test data volume is important for field BIST because the data should be stored on a chip. In this paper, for the purpose of reducing test data and improving its fault coverage in scan-based BIST structure, we propose a multi-cycle test method which observes the value of partial flip-flops during capture operations. We evaluate the effect of fault coverage improvement and its dependency on choosing methods of observable flip-flops and a ratio of observed flip-flops. | |
| キーワード | （和） | BIST / マルチサイクルテスト / 複数観測 / スキャンテスト / / / / |
| （英） | BIST / multi-cycle test / multiple observation / scan test / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 110, no. 317, DC2010-28, pp. 31-36, 2010年11月. | |
| 資料番号 | DC2010-28 | |
| 発行日 | 2010-11-22 (VLD, DC) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | VLD2010-61 DC2010-28 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | VLD DC IPSJ-SLDM CPSY RECONF ICD CPM |
| 開催期間 | 2010-11-29 - 2010-12-01 |
| 開催地（和） | 九州大学医学部百年講堂 |
| 開催地（英） | Kyushu University |
| テーマ（和） | デザインガイア2010 ―VLSI設計の新しい大地― |
| テーマ（英） | Design Gaia 2010 ―New Field of VLSI Design― |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | DC |
| 会議コード | 2010-11-VLD-DC-SLDM-CPSY-RECONF-ICD-CPM |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | スキャンBISTにおけるマルチサイクルテストと部分観測方式の提案と評価 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Evaluation of Multi-Cycle Test with Partial Observation in Scan BIST Structure |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | BIST / BIST |
| キーワード(2)（和/英） | マルチサイクルテスト / multi-cycle test |
| キーワード(3)（和/英） | 複数観測 / multiple observation |
| キーワード(4)（和/英） | スキャンテスト / scan test |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 山口 久登 / Hisato Yamaguchi / ヤマグチ ヒサト |
| 第1著者 所属（和/英） | 九州工業大学/科学技術振興機構 (略称： 九工大/JST) Kyushu Institute of Technology/JST CREST (略称： Kyushu Inst. of Tech./JST) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 松薗 誠 / Makoto Matsuzono / マツゾノ マコト |
| 第2著者 所属（和/英） | 九州工業大学/科学技術振興機構 (略称： 九工大/JST) Kyushu Institute of Technology/JST CREST (略称： Kyushu Inst. of Tech./JST) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 佐藤 康夫 / Yasuo Sato / サトウ ヤスオ |
| 第3著者 所属（和/英） | 九州工業大学/科学技術振興機構 (略称： 九工大/JST) Kyushu Institute of Technology/JST CREST (略称： Kyushu Inst. of Tech./JST) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 梶原 誠司 / Seiji Kajihara / カジハラ セイジ |
| 第4著者 所属（和/英） | 九州工業大学/科学技術振興機構 (略称： 九工大/JST) Kyushu Institute of Technology/JST CREST (略称： Kyushu Inst. of Tech./JST) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2010-11-29 15:25:00 |
| 発表時間 | 20分 |
| 申込先研究会 | DC |
| 資料番号 | VLD2010-61, DC2010-28 |
| 巻番号（vol） | vol.110 |
| 号番号（no） | no.316(VLD), no.317(DC) |
| ページ範囲 | pp.31-36 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2010-11-22 (VLD, DC) |
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