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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2010-11-29 10:40 CMOSデジタルLSIにおける電源雑音の周波数成分評価 ○吉川薫平・松本 大・佐々木悠太（神戸大）・永田 真（神戸大/JST）  CPM2010-124 ICD2010-83 |
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| 抄録 | （和） | 近年のVLSIの大規模化・高集積化・低動作電圧化によりチップ内部の電流密度上昇や雑音マージンの低下がおこり,電源雑音が顕在化している.製造するLSIの動作保証や性能保証のため,設計段階での電源雑音対策が求められている. 本稿ではプロセッサ搭載チップを対象とした電源雑音の周波数成分評価について報告する.回路動作時に発生する電源雑音をオンチップモニタ回路を用いて時間領域で取得し,フーリエ変換を行うことで周波数成分評価を行った.さらに,磁界プローブを用いてプリント基板上での電源雑音測定を行い,チップから外部漏洩する雑音の周波数成分評価を行った.また,容量充電モデルを用いた電源雑音解析を行い,比較評価することで解析モデルが設計段階において,チップ内部における電源電圧変動およびプリント基板上に漏洩する電源雑音把握に有効であることを示した. |
| （英） | Recent trends of electric devices are higher performance and/or lower power consumption. To achieve these designs, LSI chips that mounted on electric devices become larger-size, high-integrated and lower supply voltage. As a results, an increasing density of current inside LSI and a degradation of noise margin cause power-supply noise induced problems such as Power Integrity (PI) and Signal Integrity (SI). This paper proposes a evaluation of frequency components of power noise in processor. On-chip power noise and On-board power noise are measured, and frequency component of these noise are evaluated. Charging capacitance model are also evaluated and confirmed the accuracy of the model. |
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| キーワード | （和） | 電源雑音 / 雑音解析 / 磁界プローブ / 電磁環境両立性 / パワーインテグリティ / / / |
| （英） | power noise / noise simulation / Magnetic Probe / EMC / Power Integrity / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 110, no. 315, ICD2010-83, pp. 1-6, 2010年11月. | |
| 資料番号 | ICD2010-83 | |
| 発行日 | 2010-11-22 (CPM, ICD) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | CPM2010-124 ICD2010-83 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | VLD DC IPSJ-SLDM CPSY RECONF ICD CPM |
| 開催期間 | 2010-11-29 - 2010-12-01 |
| 開催地（和） | 九州大学医学部百年講堂 |
| 開催地（英） | Kyushu University |
| テーマ（和） | デザインガイア2010 ―VLSI設計の新しい大地― |
| テーマ（英） | Design Gaia 2010 ―New Field of VLSI Design― |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | ICD |
| 会議コード | 2010-11-VLD-DC-SLDM-CPSY-RECONF-ICD-CPM |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | CMOSデジタルLSIにおける電源雑音の周波数成分評価 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Evaluation of frequency components of power noise in CMOS digital LSI |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | 電源雑音 / power noise |
| キーワード(2)（和/英） | 雑音解析 / noise simulation |
| キーワード(3)（和/英） | 磁界プローブ / Magnetic Probe |
| キーワード(4)（和/英） | 電磁環境両立性 / EMC |
| キーワード(5)（和/英） | パワーインテグリティ / Power Integrity |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 吉川 薫平 / Kumpei Yoshikawa / ヨシカワ クンペイ |
| 第1著者 所属（和/英） | 神戸大学 (略称： 神戸大) Kobe University (略称： Kobe Univ.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 松本 大 / Hiroshi Matsumoto / マツモト ヒロシ |
| 第2著者 所属（和/英） | 神戸大学 (略称： 神戸大) Kobe University (略称： Kobe Univ.) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 佐々木 悠太 / Yuta Sasaki / ササキ ユウタ |
| 第3著者 所属（和/英） | 神戸大学 (略称： 神戸大) Kobe University (略称： Kobe Univ.) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 永田 真 / Makoto Nagata / ナガタ マコト |
| 第4著者 所属（和/英） | 神戸大学/CREST-JST (略称： 神戸大/JST) Kobe University/CREST-JST (略称： Kobe Univ./CREST-JST) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2010-11-29 10:40:00 |
| 発表時間 | 20分 |
| 申込先研究会 | ICD |
| 資料番号 | CPM2010-124, ICD2010-83 |
| 巻番号（vol） | vol.110 |
| 号番号（no） | no.314(CPM), no.315(ICD) |
| ページ範囲 | pp.1-6 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2010-11-22 (CPM, ICD) |
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