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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2010-12-01 09:50 非実機環境上での故障注入技術による車載システムレベル信頼性評価技術 ○伊藤康宏（日立）・中田洋平・川口 博（神戸大）・吉本雅彦（神戸大/JST）・勝 康夫・於保 茂（日立）  VLD2010-73 DC2010-40 |
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| 抄録 | （和） | 組込みシステム全体レベルでの信頼性検証を目的にメモリアクセス時の故障注入を可能とするメカ/エレ キ/ソフト協調シミュレーション技術, Fault Injection System を開発した. Fault Injection System はメモリ故障の起 きる時間, アドレスを確定的に記述した故障シナリオを入力として受け取り, これに基づき SRAM アクセス異常を模 擬する. バス上に追加された仮想的なブリッジがメモリトランザクションに介入する形でアクセス異常を模擬する事 により, テスト対象環境への非侵襲性を確保可能とした. 本手法を自動車エンジン制御システムに適用し, メモリ故障 による点火制御への影響を模擬可能にした. |
| （英） | Fault Injection System: a system level co-simulation environment with fault-injection in memory access was developed. It accepted a fault scenario that includes when and where memory failures occur, and imposed SRAM access failure. A virtual bus-bridge model added in a memory bus of target system disguised SRAM access failure by intervening memory transactions Consequently, it was possible to maintain the tartget system noninvasive from modification. This approach was adopted to a validation of vehicle engine control, as a result a ignition failure occured by SRAM fault was observed | |
| キーワード | （和） | 故障注入 / メモリ故障 / システムシミュレーション / / / / / |
| （英） | Fault Injection / Memory Error / System Simulation / / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 110, no. 317, DC2010-40, pp. 119-123, 2010年11月. | |
| 資料番号 | DC2010-40 | |
| 発行日 | 2010-11-22 (VLD, DC) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | VLD2010-73 DC2010-40 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | VLD DC IPSJ-SLDM CPSY RECONF ICD CPM |
| 開催期間 | 2010-11-29 - 2010-12-01 |
| 開催地（和） | 九州大学医学部百年講堂 |
| 開催地（英） | Kyushu University |
| テーマ（和） | デザインガイア2010 ―VLSI設計の新しい大地― |
| テーマ（英） | Design Gaia 2010 ―New Field of VLSI Design― |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | DC |
| 会議コード | 2010-11-VLD-DC-SLDM-CPSY-RECONF-ICD-CPM |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 非実機環境上での故障注入技術による車載システムレベル信頼性評価技術 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Fault-Injection using Virtualized Environment for Validating Automotive Systems |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | 故障注入 / Fault Injection |
| キーワード(2)（和/英） | メモリ故障 / Memory Error |
| キーワード(3)（和/英） | システムシミュレーション / System Simulation |
| キーワード(4)（和/英） | / |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 伊藤 康宏 / Yasuhiro Ito / イトウ ヤスヒロ |
| 第1著者 所属（和/英） | 日立製作所 (略称： 日立) Hitachi, Ltd. (略称： Hitachi.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 中田 洋平 / Yohei Nakata / ナカタ ヨウヘイ |
| 第2著者 所属（和/英） | 神戸大学 (略称： 神戸大) Kobe University (略称： Kobe Univ.) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 川口 博 / Hiroshi Kawaguchi / カワグチ ヒロシ |
| 第3著者 所属（和/英） | 神戸大学 (略称： 神戸大) Kobe University (略称： Kobe Univ.) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 吉本 雅彦 / Masahiko Yoshimoto / ヨシモト マサヒコ |
| 第4著者 所属（和/英） | 神戸大学/科学技術振興機構 (略称： 神戸大/JST) Kobe University/Japan Science and Technology Agency, CREST (略称： Kobe Univ./JST) |
| 第5著者 氏名（和/英/ヨミ） | 勝 康夫 / Yasuo Sugure / スグレ ヤスオ |
| 第5著者 所属（和/英） | 日立製作所 (略称： 日立) Hitachi, Ltd. (略称： Hitachi.) |
| 第6著者 氏名（和/英/ヨミ） | 於保 茂 / Shigeru Oho / オホ シゲル |
| 第6著者 所属（和/英） | 日立製作所 (略称： 日立) Hitachi, Ltd. (略称： Hitachi.) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2010-12-01 09:50:00 |
| 発表時間 | 20分 |
| 申込先研究会 | DC |
| 資料番号 | VLD2010-73, DC2010-40 |
| 巻番号（vol） | vol.110 |
| 号番号（no） | no.316(VLD), no.317(DC) |
| ページ範囲 | pp.119-123 |
| ページ数 | 5 |
| 発行日 | 2010-11-22 (VLD, DC) |
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