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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2010-12-01 10:10 近磁界測定によるサイドチャネル評価実験 片下敏宏・○堀 洋平・佐藤 証（産総研）  RECONF2010-46 |
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| 抄録 | （和） | 暗号を実装したデバイスの発生する消費電力や電磁波を計測し，内部の秘密情報を非破壊的に解析するサイドチャネル攻撃と呼ばれる物理攻撃が注視されており，暗号モジュールの安全性評価基準にも評価項目として取り入れる改訂が進められている．これまでデバイスの設計においては，消費電力や放射電磁波の量が着目されていたが，今後，そこに含まれる漏洩情報の評価も重要となると考えられる．我々はサイドチャネル攻撃の評価実験向けFPGAボードを開発しており，消費電力解析の研究を進めている． FPGAの電源電圧変動の測定は容易となっている一方，電磁波解析では情報を多く含む測定位置の特定が課題となっている．そこで本稿では有効な測定個所の特定に向けて，実装配置個所が指定可能なFPGAを利用して予備的な実験を行った．実験ではAES暗号回路の配置個所を変化させながら磁界測定を行い，測定磁場の強度の変化を確認した． |
| （英） | Cryptography used widely in electronic products is evaluated in terms of computationally-secure, however there is vulnerability of hardware modules to physical attacks. Side-channel attacks are one of noninvasive physical attacks, and are considered serious threats to cryptographic modules. Side-channel Attack Standard Evaluation Board (SASEBO) that is developed as a standard evaluation environment has measurement capability for power analysis. In this paper, we took experimentation in order to evaluate potential of SASEBO for near electromagnetic field measurement. EM signals of an AES circuit were measured and analyzed with CPA. Difference of magnetic field strength between locations of cryptographic circuit was also observed. As the result, we could explore the secret key of the AES circuit, and difference of magnetic field could be determined between locations that AES circuits were implemented on. | |
| キーワード | （和） | サイドチャネル攻撃 / 近磁界測定 / 安全性評価環境 / 暗号回路 / FPGA / / / |
| （英） | Side-channel attack / Near magnetic field / Standard evaluation environment / Cryptography / FPGA / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 110, no. 319, RECONF2010-46, pp. 43-48, 2010年11月. | |
| 資料番号 | RECONF2010-46 | |
| 発行日 | 2010-11-23 (RECONF) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | RECONF2010-46 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | VLD DC IPSJ-SLDM CPSY RECONF ICD CPM |
| 開催期間 | 2010-11-29 - 2010-12-01 |
| 開催地（和） | 九州大学医学部百年講堂 |
| 開催地（英） | Kyushu University |
| テーマ（和） | デザインガイア2010 ―VLSI設計の新しい大地― |
| テーマ（英） | Design Gaia 2010 ―New Field of VLSI Design― |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | RECONF |
| 会議コード | 2010-11-VLD-DC-SLDM-CPSY-RECONF-ICD-CPM |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 近磁界測定によるサイドチャネル評価実験 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Magnetic Field Measurement for Side-channel Analysis Environment |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | サイドチャネル攻撃 / Side-channel attack |
| キーワード(2)（和/英） | 近磁界測定 / Near magnetic field |
| キーワード(3)（和/英） | 安全性評価環境 / Standard evaluation environment |
| キーワード(4)（和/英） | 暗号回路 / Cryptography |
| キーワード(5)（和/英） | FPGA / FPGA |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 片下 敏宏 / Toshihiro Katashita / カタシタ トシヒロ |
| 第1著者 所属（和/英） | 産業技術総合研究所 (略称： 産総研) National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (略称： AIST) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 堀 洋平 / Yohei Hori / ホリ ヨウヘイ |
| 第2著者 所属（和/英） | 産業技術総合研究所 (略称： 産総研) National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (略称： AIST) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 佐藤 証 / Akashi Satoh / サトウ アカシ |
| 第3著者 所属（和/英） | 産業技術総合研究所 (略称： 産総研) National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (略称： AIST) |
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| 講演者 | 第2著者 |
| 発表日時 | 2010-12-01 10:10:00 |
| 発表時間 | 20分 |
| 申込先研究会 | RECONF |
| 資料番号 | RECONF2010-46 |
| 巻番号（vol） | vol.110 |
| 号番号（no） | no.319 |
| ページ範囲 | pp.43-48 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2010-11-23 (RECONF) |
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