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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2010-12-01 11:05 確率密度関数の推定法とMIA成功率に関する一考察 ○堀 洋平（産総研）・吉田隆弘（青学大）・片下敏宏・佐藤 証（産総研）  RECONF2010-48 |
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| 抄録 | （和） | AES暗号モジュールの動作時の電圧の確率密度関数を様々な方法で推定し，それ らを用いた相互情報量解析攻撃(Mutual Information Analysis: MIA)の成功率 を比較した．暗号コアの消費電力と内部状態(レジスタのハミング重みやハミン グ距離等)の相互情報量を算出するには，これらの結合確率分布を求める必要が あるが，その分布を測定データからどのように推定するかが攻撃成功率に大き く影響する．本研究では，ノンパラメトリックな推定法としてヒストグラム法 と核密度推定法，パラメトリックな推定法として正規分布を仮定した母数の最 尤推定法を用いて電圧の確率密度関数を求めた． |
| （英） | The pfrobability density function (PDF) of voltage of AES hardware module is estimated in various ways and applied to Mutual Information Analysis Attacks (MIA). The efficiency of MIA attacks using different PDFs are compared in terms of the number of wave traces required to reveal the entire secret key. |
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| キーワード | （和） | サイドチャネル攻撃 / 相互情報量解析攻撃 (MIA) / Adavnced Encryption Standard (AES) / 確率密度関数 / FPGA / / / |
| （英） | Side-channel attack / Mutual Information Analysis (MIA) / Advanced Encryption Standard (AES) / probability density function / Field-Programmable Gate Array (FPGA) / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 110, no. 319, RECONF2010-48, pp. 55-60, 2010年11月. | |
| 資料番号 | RECONF2010-48 | |
| 発行日 | 2010-11-23 (RECONF) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | RECONF2010-48 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | VLD DC IPSJ-SLDM CPSY RECONF ICD CPM |
| 開催期間 | 2010-11-29 - 2010-12-01 |
| 開催地（和） | 九州大学医学部百年講堂 |
| 開催地（英） | Kyushu University |
| テーマ（和） | デザインガイア2010 ―VLSI設計の新しい大地― |
| テーマ（英） | Design Gaia 2010 ―New Field of VLSI Design― |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | RECONF |
| 会議コード | 2010-11-VLD-DC-SLDM-CPSY-RECONF-ICD-CPM |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 確率密度関数の推定法とMIA成功率に関する一考察 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | A study of the success rate of MIA under various probability density function estimations |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | サイドチャネル攻撃 / Side-channel attack |
| キーワード(2)（和/英） | 相互情報量解析攻撃 (MIA) / Mutual Information Analysis (MIA) |
| キーワード(3)（和/英） | Adavnced Encryption Standard (AES) / Advanced Encryption Standard (AES) |
| キーワード(4)（和/英） | 確率密度関数 / probability density function |
| キーワード(5)（和/英） | FPGA / Field-Programmable Gate Array (FPGA) |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 堀 洋平 / Yohei Hori / ホリ ヨウヘイ |
| 第1著者 所属（和/英） | 産業技術総合研究所 (略称： 産総研) National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (略称： AIST) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 吉田 隆弘 / Takahiro Yoshida / ヨシダ タカヒロ |
| 第2著者 所属（和/英） | 青山学院大学 (略称： 青学大) Aoyama Gakuin University (略称： Aoyama Univ.) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 片下 敏宏 / Toshihiro Katashita / カタシタ トシヒロ |
| 第3著者 所属（和/英） | 産業技術総合研究所 (略称： 産総研) National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (略称： AIST) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 佐藤 証 / Akashi Satoh / サトウ アカシ |
| 第4著者 所属（和/英） | 産業技術総合研究所 (略称： 産総研) National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (略称： AIST) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2010-12-01 11:05:00 |
| 発表時間 | 20分 |
| 申込先研究会 | RECONF |
| 資料番号 | RECONF2010-48 |
| 巻番号（vol） | vol.110 |
| 号番号（no） | no.319 |
| ページ範囲 | pp.55-60 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2010-11-23 (RECONF) |
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