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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2010-12-16 13:00 ［招待講演］信号線・電源線ノイズのオンチップ測定と測定結果に基づいた特性の解析 ～ 学位取得までの道のりを振り返って ～ ○小笠原泰弘（ルネサス エレクトロニクス）  ICD2010-98 |
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| 抄録 | （和） | 本稿では信号線のノイズの問題として誘導性クロストークノイズの問題について述べる．90nm プロセスにおける誘導性クロストークノイズによる配線遅延変動の実測，配線モデルおよびノイズ特性の検証を行う．また，実測で検証した配線モデルを用いて先端プロセスにおける容量性，誘導性クロストークノイズの回路遅延への影響を定量的に予測する．電源ノイズの問題に対して電源ノイズ波形に対するの遅延の特性の検証，フルチップで電源ノイズ波形をシミュレーションするための回路モデル，電源ノイズ波形測定回路の提案，および電源ノイズを低減するデカップリング容量の特性の検証について述べる． |
| （英） | This paper describes measurement results of inductive coupling effect on timing, and validation of interconnect model. The impact of capacitive and inductive crosstalk in prospective processes are quantitatively predicted using the validated model. This paper also measure power supply noise, and verifies a current model with capacitance and variable resistor and gate delay dependency on average voltage drop. All digital measurement circuit for power supply noise is proposed for observation of the characteristics of decoupling capacitance. | |
| キーワード | （和） | クロストークノイズ / 電源ノイズ / オンチップ測定 / / / / / |
| （英） | crosstalk noise / power supply noise / on-chip measurement / / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 110, no. 344, ICD2010-98, pp. 19-24, 2010年12月. | |
| 資料番号 | ICD2010-98 | |
| 発行日 | 2010-12-09 (ICD) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | ICD2010-98 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | ICD |
| 開催期間 | 2010-12-16 - 2010-12-17 |
| 開催地（和） | 東京大学 先端科学技術研究センター |
| 開催地（英） | RCAST, Univ. of Tokyo |
| テーマ（和） | 学生・若手研究会 |
| テーマ（英） | Workshop for Graduate Student and Young Researchers |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | ICD |
| 会議コード | 2010-12-ICD |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 信号線・電源線ノイズのオンチップ測定と測定結果に基づいた特性の解析 |
| サブタイトル（和） | 学位取得までの道のりを振り返って |
| タイトル（英） | Measurement and Characteristics Validation of On-chip Signal and Power Noise |
| サブタイトル（英） | Looking back on my doctoral course |
| キーワード(1)（和/英） | クロストークノイズ / crosstalk noise |
| キーワード(2)（和/英） | 電源ノイズ / power supply noise |
| キーワード(3)（和/英） | オンチップ測定 / on-chip measurement |
| キーワード(4)（和/英） | / |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 小笠原 泰弘 / Yasuhiro Ogasahara / オガサハラ ヤスヒロ |
| 第1著者 所属（和/英） | ルネサスエレクトロニクス (略称： ルネサス エレクトロニクス) Renesas Electronics Corporation (略称： Renesas Electronics Corp.) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2010-12-16 13:00:00 |
| 発表時間 | 50分 |
| 申込先研究会 | ICD |
| 資料番号 | ICD2010-98 |
| 巻番号（vol） | vol.110 |
| 号番号（no） | no.344 |
| ページ範囲 | pp.19-24 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2010-12-09 (ICD) |
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