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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2010-12-17 14:30 ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 ～ 接触抵抗について (14) ～ ○和田真一・サインダー ノロブリン・越田圭治・川述真裕・小田部正能・久保田洋彰（TMCシステム）・澤 孝一郎（慶大名誉教授/日本工大）  EMD2010-132 |
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| 抄録 | （和） | 著者らは，ハンマリング加振機構によって電気接点における鉛直方向の微小振動が接触抵抗に与える影響を検討してきた．本報告においては，ハンマリング加振機構において，加振加速度を150G，コネクタのピン間の摩擦力を約0.3Nとし，各ピンを独立に測定した．約1600万回の実験を行い抵抗値が増加的に変動したが，この傾向は，ピンによって異なった．このことにより，測定値変動が大きいピンの個数およびその値にコネクタの劣化傾向が依存する傾向にあることが示唆された．この傾向は，2万回以下の加振初期においても存在することが示唆された．このことは，コネクタ内の1個のピンの初期の接触抵抗の増加によって，加速的にコネクタの接点が劣化することを示しており，今後，1ピンごとの接触抵抗の時系列変動による解析の重要性が示唆された． |
| （英） | Authors have studied the influence on contact resistance by micro-oscillation to electrical contacts using hammering oscillation mechanism in the vertical direction. It was set that the oscillating acceleration was 150G, the frictional forces between male pins and female ones were 0.3N and each pin was connected respectively. When the measurement was carried out in the condition with 16 millions’ operations, the contact resistances fluctuated increasingly and the tendency of the fluctuation was different from each other. Therefore it was shown that there were the degradation tendencies of the connector depended upon the number and the amplitudes of the fluctuating contact resistance of pins. In addition it was shown that there were the similar tendencies in the initial term under 20,000 operations. Consequently it was suggested that a connector would be degraded by the influence of initial increasing contact resistance with a pin in the connector. And it was considered to be essential to analyze the time-sequential fluctuation of the contact resistance of each pin in a connector. | |
| キーワード | （和） | 電気接点 / 微小振動 / 接触抵抗 / ハンマリング加振機構 / 加速度 / 摩擦力 / / |
| （英） | electrical contact / micro-oscillation / contact resistance / hammering oscillating mechanism / acceleration / frictional force / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 110, no. 350, EMD2010-132, pp. 17-22, 2010年12月. | |
| 資料番号 | EMD2010-132 | |
| 発行日 | 2010-12-10 (EMD) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | EMD2010-132 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | EMD |
| 開催期間 | 2010-12-17 - 2010-12-17 |
| 開催地（和） | 玉川大学 |
| 開催地（英） | Tamagawa University |
| テーマ（和） | 一般 |
| テーマ（英） | |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | EMD |
| 会議コード | 2010-12-EMD |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | ハンマリング加振機構による電気接点の劣化現象 |
| サブタイトル（和） | 接触抵抗について (14) |
| タイトル（英） | Degradation phenomenon of electrical contacts by hammering oscillating mechanism |
| サブタイトル（英） | Contact Resistance (14) |
| キーワード(1)（和/英） | 電気接点 / electrical contact |
| キーワード(2)（和/英） | 微小振動 / micro-oscillation |
| キーワード(3)（和/英） | 接触抵抗 / contact resistance |
| キーワード(4)（和/英） | ハンマリング加振機構 / hammering oscillating mechanism |
| キーワード(5)（和/英） | 加速度 / acceleration |
| キーワード(6)（和/英） | 摩擦力 / frictional force |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 和田 真一 / Shin-ichi Wada / ワダ シンイチ |
| 第1著者 所属（和/英） | TMCシステム (略称： TMCシステム) TMC System Co. Ltd. (略称： TMC) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | サインダー ノロブリン / Saindaa Norovling / サインダー ノロブリン |
| 第2著者 所属（和/英） | TMCシステム (略称： TMCシステム) TMC System Co. Ltd. (略称： TMC) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 越田 圭治 / Keiji Koshida / コシダ ケイジ |
| 第3著者 所属（和/英） | TMCシステム (略称： TMCシステム) TMC System Co. Ltd. (略称： TMC) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 川述 真裕 / Masahiro Kawanobe / カワノベ マサヒロ |
| 第4著者 所属（和/英） | TMCシステム (略称： TMCシステム) TMC System Co. Ltd. (略称： TMC) |
| 第5著者 氏名（和/英/ヨミ） | 小田部 正能 / Masayoshi Kotabe / コタベ マサヨシ |
| 第5著者 所属（和/英） | TMCシステム (略称： TMCシステム) TMC System Co. Ltd. (略称： TMC) |
| 第6著者 氏名（和/英/ヨミ） | 久保田 洋彰 / Hiroaki Kubota / クボタ ヒロアキ |
| 第6著者 所属（和/英） | TMCシステム (略称： TMCシステム) TMC System Co. Ltd. (略称： TMC) |
| 第7著者 氏名（和/英/ヨミ） | 澤 孝一郎 / Koichiro Sawa / サワ コウイチロウ |
| 第7著者 所属（和/英） | 慶応義塾大学名誉教授/日本工業大学 (略称： 慶大名誉教授/日本工大) Professor Emeritus Keio University/Nippon Institute of Technology (略称： Professor Emeritus Keio Univ/Nippon Inst. of Tech.) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2010-12-17 14:30:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | EMD |
| 資料番号 | EMD2010-132 |
| 巻番号（vol） | vol.110 |
| 号番号（no） | no.350 |
| ページ範囲 | pp.17-22 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2010-12-10 (EMD) |
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