講演抄録/キーワード |
講演名 |
2010-12-17 13:00
[招待講演]微細MOSデバイスのばらつき ○竹内 潔(ルネサス エレクトロニクス) ICD2010-121 エレソ技報アーカイブへのリンク:ICD2010-121 |
抄録 |
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文献情報 |
信学技報, vol. 110, no. 344, ICD2010-121, pp. 131-133, 2010年12月. |
資料番号 |
ICD2010-121 |
発行日 |
2010-12-09 (ICD) |
ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 |
著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) |
PDFダウンロード |
ICD2010-121 エレソ技報アーカイブへのリンク:ICD2010-121 |
研究会情報 |
研究会 |
ICD |
開催期間 |
2010-12-16 - 2010-12-17 |
開催地(和) |
東京大学 先端科学技術研究センター |
開催地(英) |
RCAST, Univ. of Tokyo |
テーマ(和) |
学生・若手研究会 |
テーマ(英) |
Workshop for Graduate Student and Young Researchers |
講演論文情報の詳細 |
申込み研究会 |
ICD |
会議コード |
2010-12-ICD |
本文の言語 |
日本語 |
タイトル(和) |
微細MOSデバイスのばらつき |
サブタイトル(和) |
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タイトル(英) |
Variability in Scaled MOS Devices |
サブタイトル(英) |
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第1著者 氏名(和/英/ヨミ) |
竹内 潔 / Kiyoshi Takeuchi / タケウチ キヨシ |
第1著者 所属(和/英) |
ルネサスエレクトロニクス (略称: ルネサス エレクトロニクス)
Renesas Electronics (略称: Renesas) |
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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講演者 |
第1著者 |
発表日時 |
2010-12-17 13:00:00 |
発表時間 |
50分 |
申込先研究会 |
ICD |
資料番号 |
ICD2010-121 |
巻番号(vol) |
vol.110 |
号番号(no) |
no.344 |
ページ範囲 |
pp.131-133 |
ページ数 |
3 |
発行日 |
2010-12-09 (ICD) |
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