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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2011-01-25 15:35 ［招待講演］Neuromorphic Microelectronics -- From Devices to Hardware Systems and Applications -- ○Alexandre Schmid（Swiss Federal Inst. of Tech. EPFL）  NLP2010-152 NC2010-116 |
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| 抄録 | （和） | The development of Neuromorphic micrcoelectronic systems has followed the advances in computational biology as well as process and fabrication technologies. Most existing systems capitalize on some specific information processing properties. Such selected properties are reviewed, and application-oriented neuromorphic system are presented at various levels of abstraction. |
| （英） | The development of Neuromorphic micrcoelectronic systems has followed the advances in computational biology as well as process and fabrication technologies. Most existing systems capitalize on some specific information processing properties. Such selected properties are reviewed, and application-oriented neuromorphic system are presented at various levels of abstraction. | |
| キーワード | （和） | neuromorphic microelectronics / fault tolerance / SEBAT / three-dimensional real-time imaging and video / / / / |
| （英） | neuromorphic microelectronics / fault tolerance / SEBAT / three-dimensional real-time imaging and video / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 110, no. 388, NC2010-116, pp. 159-164, 2011年1月. | |
| 資料番号 | NC2010-116 | |
| 発行日 | 2011-01-17 (NLP, NC) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | NLP2010-152 NC2010-116 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | NC NLP |
| 開催期間 | 2011-01-24 - 2011-01-26 |
| 開催地（和） | 北大 百年記念館 |
| 開催地（英） | Hokakido Univ. |
| テーマ（和） | 一般 および 雑音を有効利用する神経系やそのモデル |
| テーマ（英） | |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | NC |
| 会議コード | 2011-01-NC-NLP |
| 本文の言語 | 英語 |
| タイトル（和） | |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Neuromorphic Microelectronics |
| サブタイトル（英） | From Devices to Hardware Systems and Applications |
| キーワード(1)（和/英） | neuromorphic microelectronics / neuromorphic microelectronics |
| キーワード(2)（和/英） | fault tolerance / fault tolerance |
| キーワード(3)（和/英） | SEBAT / SEBAT |
| キーワード(4)（和/英） | three-dimensional real-time imaging and video / three-dimensional real-time imaging and video |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | Alexandre Schmid / Alexandre Schmid / |
| 第1著者 所属（和/英） | Swiss Federal Institute of Technology EPFL (略称： Swiss Federal Inst. of Tech. EPFL) Swiss Federal Institute of Technology EPFL (略称： Swiss Federal Inst. of Tech. EPFL) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2011-01-25 15:35:00 |
| 発表時間 | 60分 |
| 申込先研究会 | NC |
| 資料番号 | NLP2010-152, NC2010-116 |
| 巻番号（vol） | vol.110 |
| 号番号（no） | no.387(NLP), no.388(NC) |
| ページ範囲 | pp.159-164 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2011-01-17 (NLP, NC) |
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