| 講演抄録/キーワード |
| 講演名 |
2011-02-07 14:10
光電子制御プラズマCVD法で成膜したネットワークナノグラファイト配線 ○佐藤元伸(富士通/JST/産総研)・小川修一(東北大/JST)・池永英司(高輝度光科学研究センター/JST)・高桑雄二(東北大/JST)・二瓶瑞久(富士通/JST/産総研)・横山直樹(産総研) SDM2010-222 |
| 抄録 |
(和) |
Cuに代わる新たなLSI配線材料として、多層グラフェンを検討している。多層グラフェンはCuより低い抵抗率、高い熱伝導率、高い電流密度耐性を有することが期待される。LSI応用のためには、成長温度400℃程度、かつ厚い触媒を用いない条件下で、高品質な多層グラフェンを得る技術が必要である。光電子制御プラズマCVD法は、触媒を用いずに直接絶縁膜上に成膜できる方法として期待される。ここでは、この成膜方法によりシリコン酸化膜上に直接成膜したカーボン膜の構造、配線加工プロセスとその電気特性、電流耐性、熱的安定性について、また、低抵抗化について報告する。 |
| (英) |
Carbon-based materials, such as carbon nanotubes and graphene nanoribbons, have been studied as interconnect materials because of their lower resistivity, higher thermal conductivity, and intrinsically higher current carrying capacity compared with Cu. We have proposed a photoemission-assisted plasma-enhanced CVD method as a way to fabricate multilayer graphene for interconnects. We have succeeded in growing Networked-Nanographite films and fabricating Networked-Nanographite wires on dielectric layers without any metal catalysts. In this study, we investigated the electrical properties and the reliability, such as current tolerance and thermal stability. Also, we investigated the way the resistivity decreases. |
| キーワード |
(和) |
光電子制御プラズマCVD / 多層グラフェン / グラファイト / カーボン / 配線 / エレクトロマイグレーション / 熱的安定性 / 信頼性 |
| (英) |
Photoemission Plasma CVD / Multilayer graphene / Graphite / Carbon / Interconnect / Electromigration / Thermal stability / Reliability |
| 文献情報 |
信学技報, vol. 110, no. 408, SDM2010-222, pp. 37-42, 2011年2月. |
| 資料番号 |
SDM2010-222 |
| 発行日 |
2011-01-31 (SDM) |
| ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 |
著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) |
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SDM2010-222 |