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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2011-02-14 14:35 欠陥検出テストのためのテストパターン選択 ○古谷博司・酒井孝郎・樋上喜信・高橋 寛（愛媛大）  DC2010-66 |
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| 抄録 | （和） | 微細化加工技術の進展に伴って，配線の欠陥によって生じる不良モードの多様化が問題となっている．そのため，従来の縮退故障および遷移故障に対するテストパターンでは十分なテストができない．本稿では，まず，故障励起関数および活性化経路評価関数に基づいて遷移故障テストパターンを評価するメトリックスを提案する． 次に，それらのメトリックスに基づいてn回検出テスト集合からテストパターンを選択する手法を提案する．評価実験結果から，提案手法により得られたテストパターン集合は，より少ないテストパターン数でより多くの故障モデルを検出できることを示す． |
| （英） | With shrinking of LSIs, the diversification of defective mode due to defects becomes a critical issue. Therefore, test patterns for stuck-at faults and transition faults are insufficient to detect such defects. In this paper, we propose metrics based on the fault excitation functions and the propagation path function to evaluate test patterns for transition faults. We also propose the method for selecting the test patterns from the n-detection test set. From the experimental results, we show that the set of selected test patterns can detect more fault models under the less number of test patterns. |
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| キーワード | （和） | 欠陥 / 欠陥検出テスト / 故障励起関数 / テストパターン選択法 / / / / |
| （英） | defect / defect-aware test / fault excitation function / method for selecting test patterns / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 110, no. 413, DC2010-66, pp. 45-50, 2011年2月. | |
| 資料番号 | DC2010-66 | |
| 発行日 | 2011-02-07 (DC) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | DC2010-66 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | DC |
| 開催期間 | 2011-02-14 - 2011-02-14 |
| 開催地（和） | 機械振興会館 |
| 開催地（英） | Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. |
| テーマ（和） | VLSI設計とテストおよび一般 |
| テーマ（英） | |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | DC |
| 会議コード | 2011-02-DC |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 欠陥検出テストのためのテストパターン選択 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Test Pattern Selection for Defect-Aware Test |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | 欠陥 / defect |
| キーワード(2)（和/英） | 欠陥検出テスト / defect-aware test |
| キーワード(3)（和/英） | 故障励起関数 / fault excitation function |
| キーワード(4)（和/英） | テストパターン選択法 / method for selecting test patterns |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 古谷 博司 / Hiroshi Furutani / フルタニ ヒロシ |
| 第1著者 所属（和/英） | 愛媛大学 (略称： 愛媛大) Ehime University (略称： Ehime Univ.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 酒井 孝郎 / Takao Sakai / サカイ タカオ |
| 第2著者 所属（和/英） | 愛媛大学 (略称： 愛媛大) Ehime University (略称： Ehime Univ.) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 樋上 喜信 / Yoshinobu Higami / ヒガミ ヨシノブ |
| 第3著者 所属（和/英） | 愛媛大学 (略称： 愛媛大) Ehime University (略称： Ehime Univ.) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 高橋 寛 / Hiroshi Takahashi / タカハシ ヒロシ |
| 第4著者 所属（和/英） | 愛媛大学 (略称： 愛媛大) Ehime University (略称： Ehime Univ.) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2011-02-14 14:35:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | DC |
| 資料番号 | DC2010-66 |
| 巻番号（vol） | vol.110 |
| 号番号（no） | no.413 |
| ページ範囲 | pp.45-50 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2011-02-07 (DC) |
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