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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2011-02-14 11:50 テスト実行時における初期温度均一化のためのパターン生成法 ○小副川絵美子・米田友和・井上美智子・藤原秀雄（奈良先端大/JST）  DC2010-63 |
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| 抄録 | （和） | LSIのフィールド使用時における劣化検知は，LSIの品質や信頼性を保証するための重要な技術である．劣化は遅延値の増加として現れるため，劣化検知は遅延テストや遅延測定を用いて行われる．しかし，遅延値変動は，測定時の温度や電圧にも依存するため，劣化による遅延変動のみを求めることは困難である．そこで，本稿では，テスト開始時の回路温度を短時間で空間的に均一に設定するためのパターン生成法を提案する．提案手法は，テスト開始時に均一にしたい温度に必要な電力を求め，その電力を消費する単一のスキャンパターンを生成する．生成したパターンを用いて，繰り返しスキャンシフトすることで温度均一化を実現する．評価実験では，提案手法が目標温度に対し，少ない誤差で均一化可能であることを示す． |
| （英） | Circuit failure prediction is essential to ensure product quality and in-field reliability. The basic principle of circuit failure prediction is to capture the gradual delay shift caused by transistor aging inside a circuit. However, since the delay shift are caused not only by transistor aging but also by environmental conditions such as temperature and voltage, it is difficult to capture the delay shift caused only by transistor aging.This paper proposes a pattern generation method to uniform initial temperature of circuits to eliminate the temperature-induced delay variation during test application.The proposed method first estimates the required power consumption in each circuit region to achieve an uniform temperature. We then generate a single scan test pattern that creates the estimated power distribution when it is applied repeatedly without capture operation.Experimental results show that the proposed method can achieve thermal-uniformity with a small difference from a target temperature. | |
| キーワード | （和） | 温度均一化 / 遅延テスト / 消費電力 / 温度シミュレーション / / / / |
| （英） | thermal-uniformity / delay test / power consumption / simulation of temperature / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 110, no. 413, DC2010-63, pp. 27-32, 2011年2月. | |
| 資料番号 | DC2010-63 | |
| 発行日 | 2011-02-07 (DC) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | DC2010-63 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | DC |
| 開催期間 | 2011-02-14 - 2011-02-14 |
| 開催地（和） | 機械振興会館 |
| 開催地（英） | Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. |
| テーマ（和） | VLSI設計とテストおよび一般 |
| テーマ（英） | |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | DC |
| 会議コード | 2011-02-DC |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | テスト実行時における初期温度均一化のためのパターン生成法 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | A Pattern Generation Method to Uniform Initial Temperature of Test Application |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | 温度均一化 / thermal-uniformity |
| キーワード(2)（和/英） | 遅延テスト / delay test |
| キーワード(3)（和/英） | 消費電力 / power consumption |
| キーワード(4)（和/英） | 温度シミュレーション / simulation of temperature |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 小副川 絵美子 / Emiko Kosoegawa / コソエガワ エミコ |
| 第1著者 所属（和/英） | 奈良先端科学技術大学院大学/科学技術振興機構 (略称： 奈良先端大/JST) Nara Institute of Science and Technology/Japan Science and Technology Agency, CREST (略称： NAIST/JST) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 米田 友和 / Tomokazu Yoneda / ヨネダ トモカズ |
| 第2著者 所属（和/英） | 奈良先端科学技術大学院大学/科学技術振興機構 (略称： 奈良先端大/JST) Nara Institute of Science and Technology/Japan Science and Technology Agency, CREST (略称： NAIST/JST) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 井上 美智子 / Michiko Inoue / イノウエ ミチコ |
| 第3著者 所属（和/英） | 奈良先端科学技術大学院大学/科学技術振興機構 (略称： 奈良先端大/JST) Nara Institute of Science and Technology/Japan Science and Technology Agency, CREST (略称： NAIST/JST) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 藤原 秀雄 / Hideo Fujiwara / フジワラ ヒデオ |
| 第4著者 所属（和/英） | 奈良先端科学技術大学院大学/科学技術振興機構 (略称： 奈良先端大/JST) Nara Institute of Science and Technology/Japan Science and Technology Agency, CREST (略称： NAIST/JST) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2011-02-14 11:50:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | DC |
| 資料番号 | DC2010-63 |
| 巻番号（vol） | vol.110 |
| 号番号（no） | no.413 |
| ページ範囲 | pp.27-32 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2011-02-07 (DC) |
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