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| 講演名 | 2011-02-18 16:15 定量位相差顕微鏡を用いた発熱計測技術の開発 ○中村共則・岩井秀直・山内豊彦・寺田浩敏（浜松ホトニクス）  R2010-49 EMD2010-150 エレソ技報アーカイブへのリンク：EMD2010-150 |
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| 抄録 | （和） | (まだ登録されていません) |
| （英） | (Not available yet) | |
| キーワード | （和） | / / / / / / / |
| （英） | / / / / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 110, no. 415, R2010-49, pp. 43-48, 2011年2月. | |
| 資料番号 | R2010-49 | |
| 発行日 | 2011-02-11 (R, EMD) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | R2010-49 EMD2010-150 エレソ技報アーカイブへのリンク：EMD2010-150 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | EMD R |
| 開催期間 | 2011-02-18 - 2011-02-18 |
| 開催地（和） | 静岡大学（浜松キャンパス） |
| 開催地（英） | Shizuoka Univ. (Hamamatsu) |
| テーマ（和） | 機構デバイスの信頼性、信頼性一般（共催：継電器・コンタクトテクノロジ研究会,IEEE CPMT JAPAN） |
| テーマ（英） | |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | R |
| 会議コード | 2011-02-EMD-R |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 定量位相差顕微鏡を用いた発熱計測技術の開発 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Thermal imaging method with Phase Microscopy |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | / |
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| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 中村 共則 / Tomonori Nakamura / ナカムラ トモノリ |
| 第1著者 所属（和/英） | 浜松ホトニクス株式会社 (略称： 浜松ホトニクス) Hamamatsu Photonics K.K. (略称： HPK CRL) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 岩井 秀直 / Hidenao Iwai / イワイ ヒデナオ |
| 第2著者 所属（和/英） | 浜松ホトニクス株式会社中央研究所 (略称： 浜松ホトニクス) Central Recerch Lab. Hamamatsu Photonics K.K. (略称： HPK CRL) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 山内 豊彦 / Toyohiko Yamauchi / ヤマウチ トヨヒコ |
| 第3著者 所属（和/英） | 浜松ホトニクス株式会社中央研究所 (略称： 浜松ホトニクス) Central Recerch Lab. Hamamatsu Photonics K.K. (略称： HPK CRL) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 寺田 浩敏 / Hirotoshi Terada / テラダ ヒロトシ |
| 第4著者 所属（和/英） | 浜松ホトニクス株式会社 (略称： 浜松ホトニクス) Hamamatsu Photonics K.K. (略称： HPK) |
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| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2011-02-18 16:15:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | R |
| 資料番号 | R2010-49, EMD2010-150 |
| 巻番号（vol） | vol.110 |
| 号番号（no） | no.415(R), no.416(EMD) |
| ページ範囲 | pp.43-48 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2011-02-11 (R, EMD) |
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