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講演抄録/キーワード
講演名 2011-03-03 10:45
遅延時間差検出型アービターPUFによるセレクタ遅延時間測定評価
村山貴彦汐崎 充古橋康太福島照理藤野 毅立命館大VLD2010-127
抄録 (和) 耐タンパLSI回路技術として,製造ばらつきから複製困難なデバイス固有情報を生成するPhysical Unclonable Function (PUF)が注目されている.我々はPUFの一種であるアービターPUFのユニーク性を向上させた遅延時間差検出型アービターPUFを提案してきたが,遅延時間差の時間情報を用いるため製造ばらつきが遅延時間差分布に与える影響を設計時に抑えておくことが重要である.そこで,0.18μm CMOSプロセスで設計,試作したテストチップを用いて,セレクタ段数や環境変化(温度や電源電圧)が遅延時間差の分布に与える影響をシミュレーションと実測とで比較評価した.セレクタ8段の標準偏差は14.48psで,段数がN倍になると標準偏差が 倍になり,電源電圧の影響を強く受けることがわかった. 
(英) Physical Unclonable Functions (PUFs) have been proposed to produce tamper-resistant device or create unique identifications of the secure systems. To achieve high uniqueness, we proposed a novel arbiter-PUF utilizing the Response Generation according to the Delay Time Measurement (RG-DTM) scheme. For design guideline of this RG-DTM PUF, effects between manufacturing variation and delay-time difference should be evaluated by simulation and measurement. So, the RG-DTM PUF was fabricated with 0.18μm CMOS technology, and the delay-time difference distribution was estimated. On the 8-stage RG-DTM PUF, the standard deviation was 14.48ps. When the number of the stages increased to N times, the standard deviation increased to times.
キーワード (和) Physical Unclonable Function / 遅延時間差検出型アービターPUF / 製造ばらつき / 遅延時間差分布 / / / /  
(英) Physical Unclonable Function / RG-DTM PUF / Manufacturing Variation / Delay-Time Difference Distribution / / / /  
文献情報 信学技報, vol. 110, no. 432, VLD2010-127, pp. 63-68, 2011年3月.
資料番号 VLD2010-127 
発行日 2011-02-23 (VLD) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685    Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード VLD2010-127

研究会情報
研究会 VLD  
開催期間 2011-03-02 - 2011-03-04 
開催地(和) 沖縄県男女共同参画センター 
開催地(英) Okinawaken-Danjo-Kyodo-Sankaku Center 
テーマ(和) システムオンシリコンを支える設計技術 
テーマ(英) Design Technology for System-on-Silicon 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 VLD 
会議コード 2011-03-VLD 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 遅延時間差検出型アービターPUFによるセレクタ遅延時間測定評価 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Evaluation of Delay-Time Difference Distribution for the Delay-Time Difference Measurable Arbiter-PUF 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) Physical Unclonable Function / Physical Unclonable Function  
キーワード(2)(和/英) 遅延時間差検出型アービターPUF / RG-DTM PUF  
キーワード(3)(和/英) 製造ばらつき / Manufacturing Variation  
キーワード(4)(和/英) 遅延時間差分布 / Delay-Time Difference Distribution  
キーワード(5)(和/英) /  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 村山 貴彦 / Takahiko Murayama / ムラヤマ タカヒコ
第1著者 所属(和/英) 立命館大学 (略称: 立命館大)
Ritsumeikan University (略称: Ritsumeikan Univ.)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 汐崎 充 / Mitsuru Shiozaki / シオザキ ミツル
第2著者 所属(和/英) 立命館大学 (略称: 立命館大)
Ritsumeikan University (略称: Ritsumeikan Univ.)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 古橋 康太 / Kota Furuhashi / フルハシ コウタ
第3著者 所属(和/英) 立命館大学 (略称: 立命館大)
Ritsumeikan University (略称: Ritsumeikan Univ.)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 福島 照理 / Akitaka Fukushima / フクシマ アキタカ
第4著者 所属(和/英) 立命館大学 (略称: 立命館大)
Ritsumeikan University (略称: Ritsumeikan Univ.)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) 藤野 毅 / Takeshi Fujino / フジノ タケシ
第5著者 所属(和/英) 立命館大学 (略称: 立命館大)
Ritsumeikan University (略称: Ritsumeikan Univ.)
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講演者 第1著者 
発表日時 2011-03-03 10:45:00 
発表時間 25分 
申込先研究会 VLD 
資料番号 VLD2010-127 
巻番号(vol) vol.110 
号番号(no) no.432 
ページ範囲 pp.63-68 
ページ数
発行日 2011-02-23 (VLD) 


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