講演抄録/キーワード |
講演名 |
2011-03-03 10:45
遅延時間差検出型アービターPUFによるセレクタ遅延時間測定評価 ○村山貴彦・汐崎 充・古橋康太・福島照理・藤野 毅(立命館大) VLD2010-127 |
抄録 |
(和) |
耐タンパLSI回路技術として,製造ばらつきから複製困難なデバイス固有情報を生成するPhysical Unclonable Function (PUF)が注目されている.我々はPUFの一種であるアービターPUFのユニーク性を向上させた遅延時間差検出型アービターPUFを提案してきたが,遅延時間差の時間情報を用いるため製造ばらつきが遅延時間差分布に与える影響を設計時に抑えておくことが重要である.そこで,0.18μm CMOSプロセスで設計,試作したテストチップを用いて,セレクタ段数や環境変化(温度や電源電圧)が遅延時間差の分布に与える影響をシミュレーションと実測とで比較評価した.セレクタ8段の標準偏差は14.48psで,段数がN倍になると標準偏差が 倍になり,電源電圧の影響を強く受けることがわかった. |
(英) |
Physical Unclonable Functions (PUFs) have been proposed to produce tamper-resistant device or create unique identifications of the secure systems. To achieve high uniqueness, we proposed a novel arbiter-PUF utilizing the Response Generation according to the Delay Time Measurement (RG-DTM) scheme. For design guideline of this RG-DTM PUF, effects between manufacturing variation and delay-time difference should be evaluated by simulation and measurement. So, the RG-DTM PUF was fabricated with 0.18μm CMOS technology, and the delay-time difference distribution was estimated. On the 8-stage RG-DTM PUF, the standard deviation was 14.48ps. When the number of the stages increased to N times, the standard deviation increased to times. |
キーワード |
(和) |
Physical Unclonable Function / 遅延時間差検出型アービターPUF / 製造ばらつき / 遅延時間差分布 / / / / |
(英) |
Physical Unclonable Function / RG-DTM PUF / Manufacturing Variation / Delay-Time Difference Distribution / / / / |
文献情報 |
信学技報, vol. 110, no. 432, VLD2010-127, pp. 63-68, 2011年3月. |
資料番号 |
VLD2010-127 |
発行日 |
2011-02-23 (VLD) |
ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 |
著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) |
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VLD2010-127 |