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講演抄録/キーワード
講演名 2011-03-04 16:00
光切断法を利用した接点表面形状の計測システムに関する実験的検討
高橋佳佑長谷川 誠千歳科技大EMD2010-165 エレソ技報アーカイブへのリンク:EMD2010-165
抄録 (和) メカニカルリレー・スイッチの電極表面は、開閉動作時のアーク放電や機械的磨耗により損傷を受ける。一般に開閉動作終了後の電極表面形状の観察・評価が行われるが、開閉動作に伴う電極表面形状の変化(クレータや突起物の成長過程)を動作中に経時的に観察・評価ができれば、より詳細な比較検討が可能になる。そこで、上記の目的のために光切断法を用いた電極表面形状の評価システムの構築を進めている。今回は、直流誘導性負荷回路でAg接点にて14V-1A又は2Aの5万回遮断試験を行い、2000回動作毎に表面形状の変化を計測した。 
(英) Contact surfaces of mechanical relays and switches are often damaged by arc discharges and/or mechanical wear during switching operations. Conventionally, erosion and transfer characteristics of various contact materials under different load conditions have been mainly studied based on observation and evaluation of contact surfaces after switching operation tests. On the other hand, a further detailed study will become possible if we can observe and numerically evaluate a changing process of surface damages (especially, growth of a crater and/or a pip) on contact surfaces during switching operations. For that purpose, a numerical evaluation system of contact surface damages by way of an optical cross-section method is being constructed. In this paper, Ag contacts were operated to break a DC inductive 14V-1A or 2A load current for 50,000 operations, and the contact surface profile (a crater growth process) was numerically evaluated with this system at every 2,000 operations during the switching operations.
キーワード (和) 光切断法 / 電気接点 / アーク放電 / クレータ形状 / 材料転移 / 消耗 / /  
(英) optical cross-section method / electrical contacts / arc discharge / crater shape / material transfer / erosion / /  
文献情報 信学技報, vol. 110, no. 451, EMD2010-165, pp. 53-56, 2011年3月.
資料番号 EMD2010-165 
発行日 2011-02-25 (EMD) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685    Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード EMD2010-165 エレソ技報アーカイブへのリンク:EMD2010-165

研究会情報
研究会 EMD  
開催期間 2011-03-04 - 2011-03-04 
開催地(和) 日本工業大学 
開催地(英) Nippon Institute of Technology 
テーマ(和) 卒論・修論特集(ショートノート) 
テーマ(英)  
講演論文情報の詳細
申込み研究会 EMD 
会議コード 2011-03-EMD 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 光切断法を利用した接点表面形状の計測システムに関する実験的検討 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) An experimental study on an evaluation system of a contact surface profile with an optical cross-section method 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) 光切断法 / optical cross-section method  
キーワード(2)(和/英) 電気接点 / electrical contacts  
キーワード(3)(和/英) アーク放電 / arc discharge  
キーワード(4)(和/英) クレータ形状 / crater shape  
キーワード(5)(和/英) 材料転移 / material transfer  
キーワード(6)(和/英) 消耗 / erosion  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 高橋 佳佑 / Keisuke Takahashi / タカハシ ケイスケ
第1著者 所属(和/英) 千歳科学技術大学 (略称: 千歳科技大)
Chitose Institute of Science and Technology (略称: Chitose Inst. of Sci & Tech.)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 長谷川 誠 / Makoto Hasegawa / ハセガワ マコト
第2著者 所属(和/英) 千歳科学技術大学 (略称: 千歳科技大)
Chitose Institute of Science and Technology (略称: Chitose Inst. of Sci & Tech.)
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講演者 第1著者 
発表日時 2011-03-04 16:00:00 
発表時間 15分 
申込先研究会 EMD 
資料番号 EMD2010-165 
巻番号(vol) vol.110 
号番号(no) no.451 
ページ範囲 pp.53-56 
ページ数
発行日 2011-02-25 (EMD) 


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