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講演抄録/キーワード
講演名 2011-04-15 10:15
キラル表面上に作製したポリジアセチレン膜の評価
金 英輝篠 竜徳大嶋優記間中孝彰岩本光正東工大SDM2011-2 OME2011-2
抄録 (和) ガラス上に作製したジアセチレン(DA)膜に円偏光照射を施すと、光重合過程を経てキラルなポリジアセチレン(PDA)膜が作製できる。このキラル化技術を用いても、マクロな観測では偏光の違いでその結晶構造に違いはなく、数10 μm程度の多数のドメインが膜内に確認されている。一方、メントールポリマー(pMn)を下層とした際、無偏光による重合後に高複屈折な球晶状の構造が偏光顕微鏡を用いて確認された。さらに、下層のキラリティーの有無により、上層PDA膜に異なる屈折率異方性を誘起できることがわかった。 
(英) Poly(diacetylene)[PDA] film can possess chirality via circularly polarized photo-polymerization (CPPP) from the precursor diacetylene (DA) film, and its morphological change between PDA films prepared using left- and right-circularly polarized light (CPL) is not observed. In this presentation, we discuss the chirality or morphological change induced at the step of preparation of DA film. Large anisotropic refractive index was shown in the PDA film evaporated on the chiral pMn.
キーワード (和) ポリジアセチレン / 光重合 / 偏光顕微鏡 / 屈折率異方性 / / / /  
(英) poly(diacetylene) / photopolymerization / polarizing microscope / anisotropic refractive index / / / /  
文献情報 信学技報, vol. 111, no. 5, OME2011-2, pp. 5-8, 2011年4月.
資料番号 OME2011-2 
発行日 2011-04-08 (SDM, OME) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685    Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード SDM2011-2 OME2011-2

研究会情報
研究会 OME SDM  
開催期間 2011-04-15 - 2011-04-15 
開催地(和) 産総研九州センター 
開催地(英) AIST Kyushu Center 
テーマ(和) 薄膜(Si,化合物,有機,フレキシブル)機能デバイス・材料・評価技術および一般 
テーマ(英) Thin Films, Functional Devices, Materials, Measurement Technology, etc. 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 OME 
会議コード 2011-04-OME-SDM 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) キラル表面上に作製したポリジアセチレン膜の評価 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Investigation of Poly(diacetylene) Film Prepared on Chiral Surface 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) ポリジアセチレン / poly(diacetylene)  
キーワード(2)(和/英) 光重合 / photopolymerization  
キーワード(3)(和/英) 偏光顕微鏡 / polarizing microscope  
キーワード(4)(和/英) 屈折率異方性 / anisotropic refractive index  
キーワード(5)(和/英) /  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 金 英輝 / Hideki Kohn / コン ヒデキ
第1著者 所属(和/英) 東京工業大学 (略称: 東工大)
Tokyo Institute of Technology (略称: Tokyo Tech.)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 篠 竜徳 / Tatsunori Shino / シノ タツノリ
第2著者 所属(和/英) 東京工業大学 (略称: 東工大)
Tokyo Institute of Technology (略称: Tokyo Tech.)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 大嶋 優記 / Yuki Ohshima / オオシマ ユウキ
第3著者 所属(和/英) 東京工業大学 (略称: 東工大)
Tokyo Institute of Technology (略称: Tokyo Tech.)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 間中 孝彰 / Takaaki Manaka / マナカ タカアキ
第4著者 所属(和/英) 東京工業大学 (略称: 東工大)
Tokyo Institute of Technology (略称: Tokyo Tech.)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) 岩本 光正 / Mitsumasa Iwamoto / イワモト ミツマサ
第5著者 所属(和/英) 東京工業大学 (略称: 東工大)
Tokyo Institute of Technology (略称: Tokyo Tech.)
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講演者 第1著者 
発表日時 2011-04-15 10:15:00 
発表時間 25分 
申込先研究会 OME 
資料番号 SDM2011-2, OME2011-2 
巻番号(vol) vol.111 
号番号(no) no.4(SDM), no.5(OME) 
ページ範囲 pp.5-8 
ページ数
発行日 2011-04-08 (SDM, OME) 


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