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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2011-04-15 11:30 高耐久化に向けた有機薄膜太陽電池の劣化解析法 山成敏広・○吉田郵司（産総研）  SDM2011-5 OME2011-5 |
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| 抄録 | （和） | 有機薄膜太陽電池の実用化において、高耐久化は極めて重要な研究開発要素である。その高耐久化を実現するためには、有機薄膜太陽電池の基本的な劣化のメカニズムを明らかにする必要がある。本研究では、劣化機構の解明に向けた劣化の可視化技術を導入し、劣化初期における構造欠陥を明らかにした。 |
| （英） | For the practical use of organic photovoltaic cells (OPV), the high durability is much important feature. We focused on the degradation mechanism of OPV due to upgrade of the durability. In this study, we introduced a electroluminescence methods as a new degradation analysis for visualization of various defects. So, the inside defect structure of OPV was revealed in the initial stage of degradation. | |
| キーワード | （和） | 有機薄膜太陽電池 / 劣化機構 / 電界発光 / 電極酸化 / / / / |
| （英） | organic photovoltaic cells / degradation mechanism / electroluminescence / electrode oxidation / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 111, no. 5, OME2011-5, pp. 17-20, 2011年4月. | |
| 資料番号 | OME2011-5 | |
| 発行日 | 2011-04-08 (SDM, OME) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | SDM2011-5 OME2011-5 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | OME SDM |
| 開催期間 | 2011-04-15 - 2011-04-15 |
| 開催地（和） | 産総研九州センター |
| 開催地（英） | AIST Kyushu Center |
| テーマ（和） | 薄膜(Si,化合物,有機,フレキシブル)機能デバイス・材料・評価技術および一般 |
| テーマ（英） | Thin Films, Functional Devices, Materials, Measurement Technology, etc. |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | OME |
| 会議コード | 2011-04-OME-SDM |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 高耐久化に向けた有機薄膜太陽電池の劣化解析法 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Degradation analysis of organic photovoltaic cells for high durability |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | 有機薄膜太陽電池 / organic photovoltaic cells |
| キーワード(2)（和/英） | 劣化機構 / degradation mechanism |
| キーワード(3)（和/英） | 電界発光 / electroluminescence |
| キーワード(4)（和/英） | 電極酸化 / electrode oxidation |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 山成 敏広 / Toshihiro Yamanari / ヤマナリ トシヒロ |
| 第1著者 所属（和/英） | 産業技術総合研究所 (略称： 産総研) National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (略称： AIST) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 吉田 郵司 / Yuji Yoshida / ヨシダ ユウジ |
| 第2著者 所属（和/英） | 産業技術総合研究所 (略称： 産総研) National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (略称： AIST) |
| 講演者 | 第2著者 |
| 発表日時 | 2011-04-15 11:30:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | OME |
| 資料番号 | SDM2011-5, OME2011-5 |
| 巻番号（vol） | vol.111 |
| 号番号（no） | no.4(SDM), no.5(OME) |
| ページ範囲 | pp.17-20 |
| ページ数 | 4 |
| 発行日 | 2011-04-08 (SDM, OME) |
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