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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2011-05-13 16:25 量子ドットセルオートマトンPLAの信頼性評価 ○三浦克介・野津孝行・中前幸治（阪大）  R2011-13 |
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| 抄録 | （和） | MOSデバイスの微細化が物理的限界に近付いており、新たな論理回路実装技術が模索されている。その一つとして、量子ドットセルオートマトン (QCA: quantum-dot celluar automata) が注目されている。本報告では、QCAによるプログラマブルロジックアレイ (PLA: Programmable Logic Array) について、シミュレータを用いて、信頼性の評価を行っている。欠陥種としては量子ドットセルが本来の位置から移動する欠陥(シフト)を仮定し、欠陥率、シフト量、温度をパラメータとし、評価を行っている。この結果、配線の交差部が信頼性の低下をもたらしていることを示す。信頼性を改善する為、配線交差部のレイアウトを改善し、これにより、種々の条件下で信頼性が向上することを示す。 |
| （英） | At present, there are a number of research efforts that have focused on different devices that might either replace or augment MOS technology because it faces serious challenges due to the fundamental physical limits in nano-scale era. The quantum-dot cellular automata (QCA) is one of the alternative device candidates that attract considerable attention. In this study, we evaluate the defect-tolerance of the QCA-based programmable logic array (PLA) by a simulator. The shift of the quantum-dot cell (a deviation of a quantum-dot cell from the ideal loccation) is assumed as a defect model. Temperature, the amount of shift, and defect rate are changed as parameters. It is found that co-planar wire-crossing point degrades the defect-tolerance. The layout of the PLA is modified and its defect-tolerance is evaluated in order to show its validity. | |
| キーワード | （和） | 量子ドットセルオートマトン / プログラマブルロジックアレイ / 平面交差 / 信頼性 / 耐欠陥性 / 温度 / / |
| （英） | quantum-dot cellular automata / programmable logic array / coplanar crossing / reliability / defect tolerance / temperature / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 111, no. 33, R2011-13, pp. 29-34, 2011年5月. | |
| 資料番号 | R2011-13 | |
| 発行日 | 2011-05-06 (R) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | R2011-13 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | R |
| 開催期間 | 2011-05-13 - 2011-05-13 |
| 開催地（和） | 高知市文化プラザ「かるぽーと」 |
| 開催地（英） | Kochi City Culture-Plaza Cul-Port |
| テーマ（和） | ＬＳＩを含む電子デバイスの評価・解析・診断，および信頼性一般 |
| テーマ（英） | |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | R |
| 会議コード | 2011-05-R |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 量子ドットセルオートマトンPLAの信頼性評価 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Evaluation of defect-tolerance in the quantum-dot cellular automata PLA |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | 量子ドットセルオートマトン / quantum-dot cellular automata |
| キーワード(2)（和/英） | プログラマブルロジックアレイ / programmable logic array |
| キーワード(3)（和/英） | 平面交差 / coplanar crossing |
| キーワード(4)（和/英） | 信頼性 / reliability |
| キーワード(5)（和/英） | 耐欠陥性 / defect tolerance |
| キーワード(6)（和/英） | 温度 / temperature |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 三浦 克介 / Katsuyoshi Miura / ミウラ カツヨシ |
| 第1著者 所属（和/英） | 大阪大学 (略称： 阪大) Osaka University (略称： Osaka Univ) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 野津 孝行 / Takayuki Notsu / ノツ タカユキ |
| 第2著者 所属（和/英） | 大阪大学 (略称： 阪大) Osaka University (略称： Osaka Univ) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 中前 幸治 / Koji Nakamae / ナカマエ コウジ |
| 第3著者 所属（和/英） | 大阪大学 (略称： 阪大) Osaka University (略称： Osaka Univ) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2011-05-13 16:25:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | R |
| 資料番号 | R2011-13 |
| 巻番号（vol） | vol.111 |
| 号番号（no） | no.33 |
| ページ範囲 | pp.29-34 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2011-05-06 (R) |
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