講演抄録/キーワード |
講演名 |
2011-05-13 16:25
量子ドットセルオートマトンPLAの信頼性評価 ○三浦克介・野津孝行・中前幸治(阪大) R2011-13 |
抄録 |
(和) |
MOSデバイスの微細化が物理的限界に近付いており、新たな論理回路実装技術が模索されている。その一つとして、量子ドットセルオートマトン (QCA: quantum-dot celluar automata) が注目されている。本報告では、QCAによるプログラマブルロジックアレイ (PLA: Programmable Logic Array) について、シミュレータを用いて、信頼性の評価を行っている。欠陥種としては量子ドットセルが本来の位置から移動する欠陥(シフト)を仮定し、欠陥率、シフト量、温度をパラメータとし、評価を行っている。この結果、配線の交差部が信頼性の低下をもたらしていることを示す。信頼性を改善する為、配線交差部のレイアウトを改善し、これにより、種々の条件下で信頼性が向上することを示す。 |
(英) |
At present, there are a number of research efforts that have focused on different devices that might either replace or augment MOS technology because it faces serious challenges due to the fundamental physical limits in nano-scale era. The quantum-dot cellular automata (QCA) is one of the alternative device candidates that attract considerable attention. In this study, we evaluate the defect-tolerance of the QCA-based programmable logic array (PLA) by a simulator. The shift of the quantum-dot cell (a deviation of a quantum-dot cell from the ideal loccation) is assumed as a defect model. Temperature, the amount of shift, and defect rate are changed as parameters. It is found that co-planar wire-crossing point degrades the defect-tolerance. The layout of the PLA is modified and its defect-tolerance is evaluated in order to show its validity. |
キーワード |
(和) |
量子ドットセルオートマトン / プログラマブルロジックアレイ / 平面交差 / 信頼性 / 耐欠陥性 / 温度 / / |
(英) |
quantum-dot cellular automata / programmable logic array / coplanar crossing / reliability / defect tolerance / temperature / / |
文献情報 |
信学技報, vol. 111, no. 33, R2011-13, pp. 29-34, 2011年5月. |
資料番号 |
R2011-13 |
発行日 |
2011-05-06 (R) |
ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 |
著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) |
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R2011-13 |