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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2011-05-20 15:00 光切断法を利用した接点表面形状の計測システムに関する実験的検討（２） ○高橋佳佑・長谷川 誠（千歳科技大）  EMD2011-5 |
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| 抄録 | （和） | メカニカルリレー・スイッチの電極表面は、開閉動作時のアーク放電や機械的磨耗により損傷を受ける。一般に開閉動作終了後に電極表面形状を観察・評価するが、開閉動作中に電極表面形状の変化（クレータや突起の成長過程）を経時的に観察・評価できれば、より詳細な比較検討が可能になる。そこで、動作中の観察の実現を目指して、光切断法を用いた電極表面形状の評価システムの構築を進めている。今回は、直流誘導性負荷回路で14V－１A又は２Aを遮断するAg接点対に関して、これまでに実現した可動側電極（陰極）表面のクレータ形状の観察に加えて、対向する固定側電極（陽極）表面の転移突起の成長過程の観察も試みた。 |
| （英） | Contact surfaces of mechanical relays and switches are often damaged by arc discharges and/or mechanical wear during switching operations. Conventionally, erosion and transfer characteristics of various contact materials under different load conditions have been mainly studied based on observation and evaluation of contact surfaces after switching operation tests. On the other hand, a further detailed study will become possible if we can observe and numerically evaluate a changing process of surface damages (especially, growth of a crater and/or a pip) on contact surfaces during switching operations. For that purpose, a numerical evaluation system of contact surface damages by way of an optical cross-section method is being constructed. In this paper, Ag contacts were operated to break a DC inductive 14V-1A or 2A load current for 50,000 operations. During the switching operations, the movable contact (cathode) surface profile (a crater growth process) was numerically evaluated with the optical cross-section method, and further, the counterpart fixed contact (anode) surface profile (a pip growth process) was also observed with an additional camera system. | |
| キーワード | （和） | 光切断法 / 電気接点 / アーク放電 / クレータ形状 / 材料転移 / 消耗 / / |
| （英） | optical cross-section method / electrical contacts / arc discharge / crater shape / material transfer / erosion / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 111, no. 55, EMD2011-5, pp. 21-26, 2011年5月. | |
| 資料番号 | EMD2011-5 | |
| 発行日 | 2011-05-13 (EMD) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | EMD2011-5 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | EMD |
| 開催期間 | 2011-05-20 - 2011-05-20 |
| 開催地（和） | 東北大学 サイバーサイエンスセンター |
| 開催地（英） | Tohoku Univ. Cyber-Science Center |
| テーマ（和） | 一般 |
| テーマ（英） | |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | EMD |
| 会議コード | 2011-05-EMD |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 光切断法を利用した接点表面形状の計測システムに関する実験的検討（２） |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | An experimental study on an evaluation system of a contact surface profile with an optical cross-section method (II) |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | 光切断法 / optical cross-section method |
| キーワード(2)（和/英） | 電気接点 / electrical contacts |
| キーワード(3)（和/英） | アーク放電 / arc discharge |
| キーワード(4)（和/英） | クレータ形状 / crater shape |
| キーワード(5)（和/英） | 材料転移 / material transfer |
| キーワード(6)（和/英） | 消耗 / erosion |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 高橋 佳佑 / Keisuke Takahashi / タカハシ ケイスケ |
| 第1著者 所属（和/英） | 千歳科学技術大学 (略称： 千歳科技大) Chitose Institute of Science and Technology (略称： Chitose Inst. of Sci. & Tech.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 長谷川 誠 / Makoto Hasegawa / ハセガワ マコト |
| 第2著者 所属（和/英） | 千歳科学技術大学 (略称： 千歳科技大) Chitose Institute of Science and Technology (略称： Chitose Inst. of Sci. & Tech.) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2011-05-20 15:00:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | EMD |
| 資料番号 | EMD2011-5 |
| 巻番号（vol） | vol.111 |
| 号番号（no） | no.55 |
| ページ範囲 | pp.21-26 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2011-05-13 (EMD) |
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