ご案内 入会して研究会活動をもっとお得に!研究会参加費・年間登録費が会員価格になります。
お知らせ 【重要】研究会参加費の支払いおよび原稿アップロード手続きの変更に関するご案内
電子情報通信学会 研究会発表申込システム
講演論文 詳細
技報閲覧サービス
[ログイン]
技報アーカイブ
 トップに戻る 前のページに戻る   [Japanese] / [English] 

講演抄録/キーワード
講演名 2011-06-23 16:15
非破壊検査における超音波フェーズドアレイ探傷と新技術
小島 正超音波技研US2011-20
抄録 (和) 超音波フェーズドアレイ探傷ではポリスチレンなどの樹脂製くさびを使って縦波から横波にモード変換する独特なセクター走査で斜角探傷(PA横波斜角探傷)を行っているが、アーチファクト、分解能の低下、スキャン領域の狭小化、その他いろいろな問題が発生している。今回、医用超音波診断装置の技術を応用してくさびを使わないPA縦波斜角探傷技術および探傷器を開発し非常に良い結果を得た。また、欠陥評価に有用なBスコープのエコー面積とAスコープのエコー高さが極めて強い相関があることを実験で確かめた。 
(英) New techniques for ultrasonic phased array nondestructive testing have been developed using ultrasonic diagnostic equipment techniques, which are applied for Angled Beam Testing without wedge, and others. The square of defect echo of phased array has very much strong correlation with its echo height, which might be used for the evaluation of defect directly.
キーワード (和) PA横波斜角探傷 / PA縦波斜角探傷 / 最適スキャン領域 / Bエコーによる欠陥評価 / / / /  
(英) PA (Phased Array) / PA using longitudinal wave / PA using shear wave / / / / /  
文献情報 信学技報, vol. 111, no. 88, US2011-20, pp. 43-48, 2011年6月.
資料番号 US2011-20 
発行日 2011-06-16 (US) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685    Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード US2011-20

研究会情報
研究会 US  
開催期間 2011-06-23 - 2011-06-23 
開催地(和) 東京農工大学 小金井キャンパス BASE本館1F 講義室1 
開催地(英)  
テーマ(和) 医用超音波,アコースティックイメージング,一般
(共催:日本超音波医学会・日本音響学会アコースティックイメージング研究会) 
テーマ(英)  
講演論文情報の詳細
申込み研究会 US 
会議コード 2011-06-US 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 非破壊検査における超音波フェーズドアレイ探傷と新技術 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Topic Trend of Ultrasonic Phased Array Nondestructive Testing and New Techniques 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) PA横波斜角探傷 / PA (Phased Array)  
キーワード(2)(和/英) PA縦波斜角探傷 / PA using longitudinal wave  
キーワード(3)(和/英) 最適スキャン領域 / PA using shear wave  
キーワード(4)(和/英) Bエコーによる欠陥評価 /  
キーワード(5)(和/英) /  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 小島 正 / Tadashi Kojima / コジマ タダシ
第1著者 所属(和/英) 超音波技術研究所 (略称: 超音波技研)
Ultrasonic Technology Laboratory (略称: UTL)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第2著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第3著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第4著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第5著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第6著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第6著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第7著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第7著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第8著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第8著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第9著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第9著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第10著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第10著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第11著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第11著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第12著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第12著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第13著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第13著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第14著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第14著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第15著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第15著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第16著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第16著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第17著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第17著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第18著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第18著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第19著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第19著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第20著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第20著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第21著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第21著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第22著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第22著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第23著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第23著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第24著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第24著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第25著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第25著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第26著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第26著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第27著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第27著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第28著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第28著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第29著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第29著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第30著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第30著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第31著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第31著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第32著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第32著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第33著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第33著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第34著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第34著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第35著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第35著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第36著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第36著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
講演者 第1著者 
発表日時 2011-06-23 16:15:00 
発表時間 25分 
申込先研究会 US 
資料番号 US2011-20 
巻番号(vol) vol.111 
号番号(no) no.88 
ページ範囲 pp.43-48 
ページ数
発行日 2011-06-16 (US) 


[研究会発表申込システムのトップページに戻る]

[電子情報通信学会ホームページ]


IEICE / 電子情報通信学会