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| 講演名 | 2011-06-24 13:30 テスト可能な応答圧縮器におけるマルチサイクルシグネチャの効果について ○深澤祐樹・市原英行・井上智生（広島市大）  DC2011-9 |
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| 抄録 | （和） | 組込み自己テスト(BIST)手法において，筆者らは文献[8]にて被テスト回路と同時にテスト可能な符号化応答圧縮器を提案している． 本研究では，提案した符号化応答圧縮器に対して，シグネチャを複数回観測するマルチサイクルシグネチャを適用した場合の効果について議論する． マルチサイクルシグネチャを用いることにより符号化応答圧縮器の同時テスト可能性の能力を表す自己判別率を向上することができる． さらに，符号化応答圧縮器の自己判別率，巡回符号の冗長ビットの大きさ，そしてシグネチャの観測回数の間に成立する関係を明らかにする． これにより符号化応答圧縮器の設計において，十分な自己判別率を得るために必要な圧縮器の回路面積とシグネチャの観測回数を与えることができる． ベンチマーク回路に対する実験では，得られた回路面積と観測回数が妥当であり，マルチサイクルシグネチャを導入することにより 設計制約に応じた柔軟な設計が可能になることを示している． |
| （英） | In the BIST (built-in self-test) scheme, we have proposed a concurrent testable response analyzer, called an encoding-based response analyzer[8]. In this paper, we discuss effect of introducing multi-cycle signature observation, in which signatures are observed several times at different cycles, to the encoding-based response analyzer. Multi-cycle signature observation can enhance self-distinguishabiltiy to show the concurrent testability. Furthermore, we clarify the relationship among self-distinguishability, redundancy of employed cyclic codes and the number of signature observation. This relationship can give us the area size of response analyzer and the number of signature observation required to achieve sufficient self-distinguishability. Experimental results for benchmark circuits show that the obtained area size and signature observation times are meaningful and the introduction of multi-cycle signatures observation can increase the flexibility of designing concurrent testable reponse analyzers under area and self-distinguishability constraints. |
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| キーワード | （和） | 組込み自己テスト / 応答圧縮器 / 符号化 / 同時テスト / マルチサイクルシグネチャ / / / |
| （英） | Built-in self-test / MISR compactor / coding / concurrent test / multi-cycle signature / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 111, no. 100, DC2011-9, pp. 5-10, 2011年6月. | |
| 資料番号 | DC2011-9 | |
| 発行日 | 2011-06-17 (DC) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| 査読に ついて |
本技術報告は査読を経ていない技術報告であり，推敲を加えられていずれかの場に発表されることがあります． | |
| PDFダウンロード | DC2011-9 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | DC |
| 開催期間 | 2011-06-24 - 2011-06-24 |
| 開催地（和） | 機械振興会館 |
| 開催地（英） | Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. |
| テーマ（和） | 設計／テスト／検証 |
| テーマ（英） | Design, Test, Verification |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | DC |
| 会議コード | 2011-06-DC |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | テスト可能な応答圧縮器におけるマルチサイクルシグネチャの効果について |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Effective multi-cycle signatures in testable response analyzers |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | 組込み自己テスト / Built-in self-test |
| キーワード(2)（和/英） | 応答圧縮器 / MISR compactor |
| キーワード(3)（和/英） | 符号化 / coding |
| キーワード(4)（和/英） | 同時テスト / concurrent test |
| キーワード(5)（和/英） | マルチサイクルシグネチャ / multi-cycle signature |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 深澤 祐樹 / Yuki Fukazawa / フカザワ ユウキ |
| 第1著者 所属（和/英） | 広島市立大学 (略称： 広島市大) Hiroshima City University (略称： Hiroshima City Univ.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 市原 英行 / Hideyuki Ichihara / イチハラ ヒデユキ |
| 第2著者 所属（和/英） | 広島市立大学 (略称： 広島市大) Hiroshima City University (略称： Hiroshima City Univ.) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 井上 智生 / Tomoo Inoue / イノウエ トモオ |
| 第3著者 所属（和/英） | 広島市立大学 (略称： 広島市大) Hiroshima City University (略称： Hiroshima City Univ.) |
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| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2011-06-24 13:30:00 |
| 発表時間 | 30分 |
| 申込先研究会 | DC |
| 資料番号 | DC2011-9 |
| 巻番号（vol） | vol.111 |
| 号番号（no） | no.100 |
| ページ範囲 | pp.5-10 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2011-06-17 (DC) |
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