講演抄録/キーワード |
講演名 |
2011-06-24 15:50
ケアビット分布制御ドントケア抽出 ~ キャプチャ消費電力削減への適用 ~ ○山崎紘史・細川利典(日大)・吉村正義(九大) DC2011-12 |
抄録 |
(和) |
近年VLSI の大規模化,複雑化に伴い,テストパターン数の増大、故障モデルの多様化,テスト時の過剰な消費電力による誤テストが問題となっている.それらの問題を解決するために高品質,低コスト,低消費電力用のテスト生成が必要となっている.高品質,低コスト,低消費電力のテスト生成を実現する手法の一つとしてドントケア抽出技術が存在する.しかしながら,従来のドントケア抽出技術では特定のテストパターンや擬似外部入力にドントケアビットが偏り,スキャンテストにおけるキャプチャ消費電力の削減やチップ温度均一化などの適用分野に効果的でない可能性がある.本論文では,入力されたテストパターン集合に対しケアビットを制御したドントケア抽出法を提案する.ITC'99ベンチマーク回路を用いて,本手法によってドントケア抽出したテストパターン集合に対して,低キャプチャ消費電力指向ドントケア割当てを適用し,キャプチャセーフ判定を行ったので報告する. |
(英) |
The growing density and complexity for VLSIs recently cause an increase in the numbers of test patterns and fault models to be tested, and significant capture-induced yield loss by excessive high power dissipation. Test generations for high quality, low cost and low power dissipation are required to solve these problems. One of means to implement such test generations is don’t’ care identification technique. However, in conventional don’t care identification techniques, don’t care bits tend to concentrate on specific test patterns and/or pseudo primary inputs. Therefore, the techniques may not be effective for application fields such as capture power reduction and thermal-uniformity on scan testing. In this paper, we propose a don’t care identification method to control care bit distribution for an initial test pattern set. Experimental results for ITC’99 benchmark circuits show that our proposed method is effective for capture power reduction. |
キーワード |
(和) |
ドントケア抽出 / ケアビット分布 / 疑似外部入力 / キャプチャ時消費電力削減 / キャプチャセーフ / / / |
(英) |
don’t care identification / care bit distribution / pseudo primary inputs / capture power reduction / capture-safe / / / |
文献情報 |
信学技報, vol. 111, no. 100, DC2011-12, pp. 23-28, 2011年6月. |
資料番号 |
DC2011-12 |
発行日 |
2011-06-17 (DC) |
ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 |
著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) |
査読に ついて |
本技術報告は査読を経ていない技術報告であり,推敲を加えられていずれかの場に発表されることがあります. |
PDFダウンロード |
DC2011-12 |
研究会情報 |
研究会 |
DC |
開催期間 |
2011-06-24 - 2011-06-24 |
開催地(和) |
機械振興会館 |
開催地(英) |
Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. |
テーマ(和) |
設計/テスト/検証 |
テーマ(英) |
Design, Test, Verification |
講演論文情報の詳細 |
申込み研究会 |
DC |
会議コード |
2011-06-DC |
本文の言語 |
日本語 |
タイトル(和) |
ケアビット分布制御ドントケア抽出 |
サブタイトル(和) |
キャプチャ消費電力削減への適用 |
タイトル(英) |
A don't care identification method with care bit distribution control |
サブタイトル(英) |
Application to capture power reduction |
キーワード(1)(和/英) |
ドントケア抽出 / don’t care identification |
キーワード(2)(和/英) |
ケアビット分布 / care bit distribution |
キーワード(3)(和/英) |
疑似外部入力 / pseudo primary inputs |
キーワード(4)(和/英) |
キャプチャ時消費電力削減 / capture power reduction |
キーワード(5)(和/英) |
キャプチャセーフ / capture-safe |
キーワード(6)(和/英) |
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キーワード(7)(和/英) |
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キーワード(8)(和/英) |
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第1著者 氏名(和/英/ヨミ) |
山崎 紘史 / Hiroshi Yamazaki / ヤマザキ ヒロシ |
第1著者 所属(和/英) |
日本大学 (略称: 日大)
Nihon University (略称: Nihon Univ) |
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) |
細川 利典 / Toshinori Hosokawa / ホソカワ トシノリ |
第2著者 所属(和/英) |
日本大学 (略称: 日大)
Nihon University (略称: Nihon Univ) |
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) |
吉村 正義 / Masayoshi Yoshimura / |
第3著者 所属(和/英) |
九州大学 (略称: 九大)
Kyushu University (略称: Kyushu Univ) |
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第5著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第6著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第9著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第10著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第12著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第13著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第14著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第15著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第20著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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講演者 |
第1著者 |
発表日時 |
2011-06-24 15:50:00 |
発表時間 |
30分 |
申込先研究会 |
DC |
資料番号 |
DC2011-12 |
巻番号(vol) |
vol.111 |
号番号(no) |
no.100 |
ページ範囲 |
pp.23-28 |
ページ数 |
6 |
発行日 |
2011-06-17 (DC) |