| 電子情報通信学会 研究会発表申込システム 講演論文 詳細 |
技報閲覧サービス [ログイン] 技報アーカイブ |
| トップに戻る | 前のページに戻る | [Japanese] / [English] |
| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2011-10-21 09:50 サファイア基板の複素誘電率の面内異方性測定 ○和田山修平（埼玉大）・小林禧夫（サムテック）・馬 哲旺（埼玉大）  MW2011-102 |
|
| 抄録 | （和） | 我々は、円筒空洞共振器のTE111モードを用いた、誘電体積層基板の複素比誘電率(比誘電率および誘電正接)の面内異方性の測定法を提案した。本論文では、超伝導マイクロ波デバイスとして広く用いられるR面サファイア基板について複素誘電率の面内異方性の測定を行った。その結果、本方法は面内の比誘電率に1以上の大きな異方性がある材料についても有効であることを実証した。 |
| （英） | We proposed a measurement method to evaluate complex permittivity anisotropy in plane for dielectric laminate substrates, using the TE111 mode in a circular cavity. In this paper, we measured complex permittivity anisotropy in plane for R-plane-cut sapphire substrates used for superconductive micro wave device. As a result, it was verified that this measurement method is useful for materials which have big relative permittivity anisotropy in plane. | |
| キーワード | （和） | サファイア / 複素比誘電率 / 面内異方性 / 円筒空洞共振器 / TE111モード / TE011モード / / |
| （英） | Sapphire / Complex Permittivity / Anisotropy in Plane / Circular Cavity Resonator / TE111 mode / TE011 mode / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 111, no. 250, MW2011-102, pp. 89-94, 2011年10月. | |
| 資料番号 | MW2011-102 | |
| 発行日 | 2011-10-13 (MW) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | MW2011-102 |
|
| 研究会情報 | |
| 研究会 | MW |
| 開催期間 | 2011-10-20 - 2011-10-21 |
| 開催地（和） | 電気通信大学 |
| 開催地（英） | The University of Electro-Communications |
| テーマ（和） | 学生研究会／マイクロ波一般 |
| テーマ（英） | Microwave Technologies |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | MW |
| 会議コード | 2011-10-MW |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | サファイア基板の複素誘電率の面内異方性測定 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Measurements of Complex Permittivity Anisotropy in Plane of a Sapphire Substrate |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | サファイア / Sapphire |
| キーワード(2)（和/英） | 複素比誘電率 / Complex Permittivity |
| キーワード(3)（和/英） | 面内異方性 / Anisotropy in Plane |
| キーワード(4)（和/英） | 円筒空洞共振器 / Circular Cavity Resonator |
| キーワード(5)（和/英） | TE111モード / TE111 mode |
| キーワード(6)（和/英） | TE011モード / TE011 mode |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 和田山 修平 / Shuhei Wadayama / ワダヤマ シュウヘイ |
| 第1著者 所属（和/英） | 埼玉大学 (略称： 埼玉大) Saitama University (略称： Saitama Univ.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 小林 禧夫 / Yoshio Kobayashi / コバヤシ ヨシオ |
| 第2著者 所属（和/英） | サムテック(有) (略称： サムテック) SUMTEC, Inc. (略称： SUMTEC) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 馬 哲旺 / Zhewang Ma / マ テツオウ |
| 第3著者 所属（和/英） | 埼玉大学 (略称： 埼玉大) Saitama University (略称： Saitama Univ.) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2011-10-21 09:50:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | MW |
| 資料番号 | MW2011-102 |
| 巻番号（vol） | vol.111 |
| 号番号（no） | no.250 |
| ページ範囲 | pp.89-94 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2011-10-13 (MW) |
[研究会発表申込システムのトップページに戻る]