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講演抄録/キーワード
講演名 2011-11-17 14:20
Experiment Study on Electric Lifetime of Ag-SnO2 Contacts in AC-3 Duty at 32A
Liu HongwuGuan Ruiliang・○Yanfeng HeYin NairuiChangshu Switchgear Mfg.)・Chen DeguiXi'an Jiaotong Univ.EMD2011-78 エレソ技報アーカイブへのリンク:EMD2011-78
抄録 (和) When Ag/SnO2 is adopted as the contact material of the contactor with the rating current of 32 A or lower, the contact resistance is always instable, and the electrical lifetime of the contactor will be influenced rapidly. In this paper the contact phenomena with the rating current of 32A is studied. The experiment results show that the breaking arc is the main reason for the ascending contact resistance in AC-3 duty, while, the contact resistance can be decreased with the closing process. When contact resistance exceeds the upper limit, the mechanical vibration between the contacts will happen, and the contact surface will be damaged quickly. 
(英) When Ag/SnO2 is adopted as the contact material of the contactor with the rating current of 32 A or lower, the contact resistance is always instable, and the electrical lifetime of the contactor will be influenced rapidly. In this paper the contact phenomena with the rating current of 32A is studied. The experiment results show that the breaking arc is the main reason for the ascending contact resistance in AC-3 duty, while, the contact resistance can be decreased with the closing process. When contact resistance exceeds the upper limit, the mechanical vibration between the contacts will happen, and the contact surface will be damaged quickly.
キーワード (和) Ag/SnO2 / Contact resistance / AC-3 / Electric lifetime / / / /  
(英) Ag/SnO2 / Contact resistance / AC-3 / Electric lifetime / / / /  
文献情報 信学技報, vol. 111, no. 299, EMD2011-78, pp. 63-66, 2011年11月.
資料番号 EMD2011-78 
発行日 2011-11-10 (EMD) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685    Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード EMD2011-78 エレソ技報アーカイブへのリンク:EMD2011-78

研究会情報
研究会 EMD  
開催期間 2011-11-17 - 2011-11-18 
開催地(和) 秋田大学 手形キャンパス 
開催地(英) Akita Univ. Tegata Campus 
テーマ(和) 国際セッションIS-EMD2011 
テーマ(英) International Session IS-EMD2011 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 EMD 
会議コード 2011-11-EMD 
本文の言語 英語 
タイトル(和)  
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Experiment Study on Electric Lifetime of Ag-SnO2 Contacts in AC-3 Duty at 32A 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) Ag/SnO2 / Ag/SnO2  
キーワード(2)(和/英) Contact resistance / Contact resistance  
キーワード(3)(和/英) AC-3 / AC-3  
キーワード(4)(和/英) Electric lifetime / Electric lifetime  
キーワード(5)(和/英) /  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) Liu Hongwu / Liu Hongwu /
第1著者 所属(和/英) Changshu Switchgear Mfg. Co., Ltd. (略称: Changshu Switchgear Mfg.)
Changshu Switchgear Mfg. Co., Ltd. (略称: Changshu Switchgear Mfg.)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) Guan Ruiliang / Guan Ruiliang /
第2著者 所属(和/英) Changshu Switchgear Mfg. Co., Ltd. (略称: Changshu Switchgear Mfg.)
Changshu Switchgear Mfg. Co., Ltd. (略称: Changshu Switchgear Mfg.)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) Yanfeng He / Yanfeng He /
第3著者 所属(和/英) Changshu Switchgear Mfg. Co., Ltd. (略称: Changshu Switchgear Mfg.)
Changshu Switchgear Mfg. Co., Ltd. (略称: Changshu Switchgear Mfg.)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) Yin Nairui / Yin Nairui /
第4著者 所属(和/英) Changshu Switchgear Mfg. Co., Ltd. (略称: Changshu Switchgear Mfg.)
Changshu Switchgear Mfg. Co., Ltd. (略称: Changshu Switchgear Mfg.)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) Chen Degui / Chen Degui /
第5著者 所属(和/英) Xi'an Jiaotong University (略称: Xi'an Jiaotong Univ.)
Xi'an Jiaotong University (略称: Xi'an Jiaotong Univ.)
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講演者 第3著者 
発表日時 2011-11-17 14:20:00 
発表時間 20分 
申込先研究会 EMD 
資料番号 EMD2011-78 
巻番号(vol) vol.111 
号番号(no) no.299 
ページ範囲 pp.63-66 
ページ数
発行日 2011-11-10 (EMD) 


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