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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2011-11-18 16:15 Degradation Phenomenon of Electrical Contacts using a Micro-Sliding Mechanism -- Minimal Sliding Amplitudes estimated under some conditions by the Mechanism (18) -- ○Shin-ichi Wada・Keiji Koshida・Masahiro Kawanobe・Saindaa Norovling・Naoki Masuda・Akira Ishiguro・Kunio Yanagi・Hiroaki Kubota（TMC System）・Koichiro Sawa（Nippon Inst. of Tech.）  EMD2011-102 |
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| 抄録 | （和） | Authors have developed the mechanism which gives damping vibration to electrical contacts by the reciprocal hammering-oscillation and by another mechanism which gives periodical micro-sliding to electrical contacts directly driven by a magmetostrictive actuator or a piezo-electrical one. It was shown that each mechanism was able to make a test simulate an actual degradation phenomenon on electrical contacts by the influence of micro-oscillation. Using the above mechanisms and their models they have studied the influences of a micro-oscillation on contact resistance. In this paper, it was shown that there was a degradation phenomenon of electrical contacts by experimental results using the micro-sliding mechanism (MSM). Using the results the authors discussed the degradation phenomena in shorter term, about a day, on four types of conditions that the input waveform as external force was sinusoidal or rectangular and frictional force between male-pins and female-pins in a connector was usual or smaller. Consequently it was shown that there were (1) the minimal sliding amplitudes causing contact resistance fluctuations of electrical contacts and (2) the amplitudes correlating input waveforms and contact frictional forces. |
| （英） | Authors have developed the mechanism which gives damping vibration to electrical contacts by the reciprocal hammering-oscillation and by another mechanism which gives periodical micro-sliding to electrical contacts directly driven by a magmetostrictive actuator or a piezo-electrical one. It was shown that each mechanism was able to make a test simulate an actual degradation phenomenon on electrical contacts by the influence of micro-oscillation. Using the above mechanisms and their models they have studied the influences of a micro-oscillation on contact resistance. In this paper, it was shown that there was a degradation phenomenon of electrical contacts by experimental results using the micro-sliding mechanism (MSM). Using the results the authors discussed the degradation phenomena in shorter term, about a day, on four types of conditions that the input waveform as external force was sinusoidal or rectangular and frictional force between male-pins and female-pins in a connector was usual or smaller. Consequently it was shown that there were (1) the minimal sliding amplitudes causing contact resistance fluctuations of electrical contacts and (2) the amplitudes correlating input waveforms and contact frictional forces. The authors recognized that the phenomena occurred more frequently in actual static contacts under the influence of some oscillation or vibration. Because there were some scratches on the surfaces in spite of almost zero of contact resistance, it was recognized that the degradation phenomena of electrical contacts could occurred more frequently in actual static contacts. |
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| キーワード | （和） | / / / / / / / |
| （英） | electrical contact / degradation phenomenon / contact resistance / micro-sliding mechanism / hammering oscillating mechanism / frictional force / sliding amplitude / relative displacement | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 111, no. 299, EMD2011-102, pp. 189-194, 2011年11月. | |
| 資料番号 | EMD2011-102 | |
| 発行日 | 2011-11-10 (EMD) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | EMD2011-102 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | EMD |
| 開催期間 | 2011-11-17 - 2011-11-18 |
| 開催地（和） | 秋田大学 手形キャンパス |
| 開催地（英） | Akita Univ. Tegata Campus |
| テーマ（和） | 国際セッションIS-EMD2011 |
| テーマ（英） | International Session IS-EMD2011 |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | EMD |
| 会議コード | 2011-11-EMD |
| 本文の言語 | 英語 |
| タイトル（和） | |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Degradation Phenomenon of Electrical Contacts using a Micro-Sliding Mechanism |
| サブタイトル（英） | Minimal Sliding Amplitudes estimated under some conditions by the Mechanism (18) |
| キーワード(1)（和/英） | / electrical contact |
| キーワード(2)（和/英） | / degradation phenomenon |
| キーワード(3)（和/英） | / contact resistance |
| キーワード(4)（和/英） | / micro-sliding mechanism |
| キーワード(5)（和/英） | / hammering oscillating mechanism |
| キーワード(6)（和/英） | / frictional force |
| キーワード(7)（和/英） | / sliding amplitude |
| キーワード(8)（和/英） | / relative displacement |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 和田 真一 / Shin-ichi Wada / ワダ シンイチ |
| 第1著者 所属（和/英） | TMCシステム株式会社 (略称： TMCシステム) TMC System Co. Ltd. (略称： TMC System) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 越田 圭治 / Keiji Koshida / コシダ ケイジ |
| 第2著者 所属（和/英） | TMCシステム株式会社 (略称： TMCシステム) TMC System Co. Ltd. (略称： TMC System) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 川述 真裕 / Masahiro Kawanobe / カワノベ マサヒロ |
| 第3著者 所属（和/英） | TMCシステム株式会社 (略称： TMCシステム) TMC System Co. Ltd. (略称： TMC System) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | サインダー ノロブリン / Saindaa Norovling / サインダー ノロブリン |
| 第4著者 所属（和/英） | TMCシステム株式会社 (略称： TMCシステム) TMC System Co. Ltd. (略称： TMC System) |
| 第5著者 氏名（和/英/ヨミ） | 益田 直樹 / Naoki Masuda / マスダ ナオキ |
| 第5著者 所属（和/英） | TMCシステム株式会社 (略称： TMCシステム) TMC System Co. Ltd. (略称： TMC System) |
| 第6著者 氏名（和/英/ヨミ） | 石黒 明 / Akira Ishiguro / イシグロ アキラ |
| 第6著者 所属（和/英） | TMCシステム株式会社 (略称： TMCシステム) TMC System Co. Ltd. (略称： TMC System) |
| 第7著者 氏名（和/英/ヨミ） | 柳 国男 / Kunio Yanagi / ヤナギ クニオ |
| 第7著者 所属（和/英） | TMCシステム株式会社 (略称： TMCシステム) TMC System Co. Ltd. (略称： TMC System) |
| 第8著者 氏名（和/英/ヨミ） | 久保田 洋彰 / Hiroaki Kubota / クボタ ヒロアキ |
| 第8著者 所属（和/英） | TMCシステム株式会社 (略称： TMCシステム) TMC System Co. Ltd. (略称： TMC System) |
| 第9著者 氏名（和/英/ヨミ） | 澤 孝一郎 / Koichiro Sawa / サワ コウイチロウ |
| 第9著者 所属（和/英） | 日本工業大学 (略称： 日本工大) Nippon Institute of Technology (略称： Nippon Inst. of Tech.) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2011-11-18 16:15:00 |
| 発表時間 | 20分 |
| 申込先研究会 | EMD |
| 資料番号 | EMD2011-102 |
| 巻番号（vol） | vol.111 |
| 号番号（no） | no.299 |
| ページ範囲 | pp.189-194 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2011-11-10 (EMD) |
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