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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2011-11-28 10:30 90nmプロセス商用FPGAにマッピングしたリングオシレータの発振周波数の劣化評価 ○石井翔平（京都工繊大）・小林和淑（京都工繊大/JST）  VLD2011-55 DC2011-31 |
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| 抄録 | （和） | 微細化に伴い顕著になってきたFPGAの経年劣化に関する問題に着目し、NBTIによるFPGAの劣化を定量的に評価した。FPGAの経年劣化を測定する前にCyclone II FPGA上にリングオシレータをマッピングして、その発振周波数の分散を実測で測定した。測定の結果、リングオシレータの発振周波数の分散は5.97\%となった。FPGAの経年劣化に関する測定では温度を室温 (28℃)、80℃または100℃に保ち、10,000秒経過までの発振周波数の変化を測定した。測定の結果、温度が高いほど発振周波数の劣化が大きく、高温では10,000秒経過時点で0.1\%程度の劣化が観測出来た。 |
| （英） | We focuse on issues related to degradation of FPGAs which has become dominant due to scaling and quantitatively estimate the degradation of FPGAs by NBTI. We map ring oscillators on the Cyclone II FPGAs and measure the variation of oscillation frequency. In the result, the variation of oscillation frequency is 5.97\%. As for degradation of FPGAs, we measure the variation of oscillation frequency until 10,000 seconds passed at room temperature (28 degrees), 80 degrees or 100 degrees. As the result, degradation of oscillation frequency increases as temperature became higher and degradation of about 0.1\% at 10,000 seconds was observed at high temperature. | |
| キーワード | （和） | NBTI / FPGA / ばらつき / 経年劣化 / / / / |
| （英） | NBTI / FPGA / Variation / Degradation / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 111, no. 324, VLD2011-55, pp. 19-24, 2011年11月. | |
| 資料番号 | VLD2011-55 | |
| 発行日 | 2011-11-21 (VLD, DC) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | VLD2011-55 DC2011-31 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | VLD DC IPSJ-SLDM CPSY RECONF ICD CPM |
| 開催期間 | 2011-11-28 - 2011-11-30 |
| 開催地（和） | ニューウェルシティ宮崎 |
| 開催地（英） | NewWelCity Miyazaki |
| テーマ（和） | デザインガイア2011 -VLSI設計の新しい大地― |
| テーマ（英） | Design Gaia 2010 -New Field of VLSI Design- |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | VLD |
| 会議コード | 2011-11-VLD-DC-SLDM-CPSY-RECONF-ICD-CPM |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 90nmプロセス商用FPGAにマッピングしたリングオシレータの発振周波数の劣化評価 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Degradation of Oscillation Frequency of Ring Oscillators Placed on a 90 nm FPGA |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | NBTI / NBTI |
| キーワード(2)（和/英） | FPGA / FPGA |
| キーワード(3)（和/英） | ばらつき / Variation |
| キーワード(4)（和/英） | 経年劣化 / Degradation |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 石井 翔平 / Shouhei Ishii / イシイ ショウヘイ |
| 第1著者 所属（和/英） | 京都工芸繊維大学 (略称： 京都工繊大) Kyoto Institute of Technology (略称： KIT) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 小林 和淑 / Kazutoshi Kobayashi / コバヤシ カズトシ |
| 第2著者 所属（和/英） | 京都工芸繊維大学 (略称： 京都工繊大/JST) Kyoto Institute of Technology (略称： KIT) |
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| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2011-11-28 10:30:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | VLD |
| 資料番号 | VLD2011-55, DC2011-31 |
| 巻番号（vol） | vol.111 |
| 号番号（no） | no.324(VLD), no.325(DC) |
| ページ範囲 | pp.19-24 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2011-11-21 (VLD, DC) |
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