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講演抄録/キーワード
講演名 2011-11-28 16:05
省面積抵抗ストリングDACと閉ループ・オフセット検出を用いたCMOSオペアンプのオフセット校正
森本浩之後藤弘明九工大)・藤原 宗新日本無線)・中村和之九工大VLD2011-65 DC2011-41
抄録 (和) オペアンプ回路のオフセット補正を、製造後に可能にする新規回路方式を開発した。クローズドループ型の補正フィードバック方式を開発し、精度を維持しつつ高速な補正動作を実現した。また、補正のための付加回路の面積の大半を占めるD/Aコンバーター回路には、Folded-Alternated Resistor String DACを開発した。これにより従来タイプのDACに比べて同等の精度でありながら、半分以下の面積と低消費電力化を実現した。0.35um標準CMOSプロセスによる試作を行い、実測を行った結果、校正によりオフセットが1.5mV以下に抑えられることを確認した。 
(英) This paper describes the development of a circuit system that enables the offset calibration of an op-amp circuit after production. A closed-loop feedback system was developed to realize high-speed and accurate offset calibration action. For the D/A converter which occupies most of the area for the additional calibration circuit, the Folded-Alternated Resistor String DAC was developed. This reduced the area by more than 50% and realized low power consumption while maintaining the same accuracy as a conventional type of DAC. The fabrication with standard 0.35µm CMOS, followed by actual measurement, has confirmed that the offset can be confined to no more than 1.5mV using the new calibration circuit. With this technique, miniaturization of a whole op-amp system can be achieved, because the layout size of each circuit consisting of op-amps can be reduced when using this offset correction circuit.
キーワード (和) オペアンプ / オフセット / 校正 / D/Aコンバーター / 抵抗ストリング / / /  
(英) Op-amp / offset / calibration / D/A converter / resistor string / / /  
文献情報 信学技報, vol. 111, no. 324, VLD2011-65, pp. 79-84, 2011年11月.
資料番号 VLD2011-65 
発行日 2011-11-21 (VLD, DC) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685    Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード VLD2011-65 DC2011-41

研究会情報
研究会 VLD DC IPSJ-SLDM CPSY RECONF ICD CPM  
開催期間 2011-11-28 - 2011-11-30 
開催地(和) ニューウェルシティ宮崎 
開催地(英) NewWelCity Miyazaki 
テーマ(和) デザインガイア2011 -VLSI設計の新しい大地― 
テーマ(英) Design Gaia 2010 -New Field of VLSI Design- 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 VLD 
会議コード 2011-11-VLD-DC-SLDM-CPSY-RECONF-ICD-CPM 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 省面積抵抗ストリングDACと閉ループ・オフセット検出を用いたCMOSオペアンプのオフセット校正 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) CMOS Op-amp Offset Calibration Technique Using a Closed Loop Offset Amplifier and Compact Resistor String DAC 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) オペアンプ / Op-amp  
キーワード(2)(和/英) オフセット / offset  
キーワード(3)(和/英) 校正 / calibration  
キーワード(4)(和/英) D/Aコンバーター / D/A converter  
キーワード(5)(和/英) 抵抗ストリング / resistor string  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 森本 浩之 / Hiroyuki Morimoto / モリモト ヒロユキ
第1著者 所属(和/英) 九州工業大学 (略称: 九工大)
Kyushu Institute of Technology (略称: KIT)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 後藤 弘明 / Hiroaki Goto / ゴトウ ヒロアキ
第2著者 所属(和/英) 九州工業大学 (略称: 九工大)
Kyushu Institute of Technology (略称: KIT)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 藤原 宗 / Hajime Fujiwara / フジワラ ハジメ
第3著者 所属(和/英) 新日本無線 (略称: 新日本無線)
New Japan Radio Co., Ltd. (略称: NJR)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 中村 和之 / Kazuyuki Nakamura / ナカムラ カズユキ
第4著者 所属(和/英) 九州工業大学 (略称: 九工大)
Kyushu Institute of Technology (略称: KIT)
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講演者 第1著者 
発表日時 2011-11-28 16:05:00 
発表時間 25分 
申込先研究会 VLD 
資料番号 VLD2011-65, DC2011-41 
巻番号(vol) vol.111 
号番号(no) no.324(VLD), no.325(DC) 
ページ範囲 pp.79-84 
ページ数
発行日 2011-11-21 (VLD, DC) 


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