| 電子情報通信学会 研究会発表申込システム 講演論文 詳細 |
技報閲覧サービス [ログイン] 技報アーカイブ |
| トップに戻る | 前のページに戻る | [Japanese] / [English] |
| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2011-11-28 09:25 スキャンシグネチャを用いたTriple DESに対するスキャンベース攻撃手法 ○小寺博和・柳澤政生・戸川 望（早大）  VLD2011-53 DC2011-29 |
|
| 抄録 | （和） | テスト容易化技術の1つであるスキャンパステストは，LSIのレジスタを外部から直接観測・制御することが可能であるためLSIの検証に非常に役立つ．一方で，暗号モジュールや暗号LSIに対するサイドチャネル攻撃の危険性が指摘されており，その中でもスキャンパステストで使用するテスト用スキャンチェインから取得可能なスキャンデータから秘密鍵を解読するスキャンベース攻撃が注目されている．従来研究として，共通鍵暗号DESやAES，公開鍵暗号RSAや楕円曲線暗号に対するスキャンベース攻撃手法が提案されているが，共通鍵暗号Triple DESに対するスキャンベース攻撃手法は報告されていない．本稿では，共通鍵暗号Triple DESに対するスキャンシグネチャを用いたスキャンベース攻撃手法を提案する．提案手法では，暗号LSIに複数の平文を入力したときのスキャンデータの特定のビット列に着目し，対応するレジスタの変化を観察することで秘密鍵を解読する．暗号LSI以外のレジスタがスキャンチェインに含まれる場合や，暗号LSIの動作タイミングが不明な場合でも秘密鍵の解読が可能となる．Triple DESは暗号化のために秘密鍵を3つ使用するため，最初に解読した秘密鍵を用いて他の秘密鍵の解読を行うことで3つの秘密鍵の解読を実行する．提案手法では，多くても43個の平文でTriple DESの秘密鍵解読をできる結果が得られた． |
| （英） | Scan-path test is one of the useful design-for-test techniques, which can observe and control registers inside LSIs. On the other hand, a scan-based attack which retrieves secret keys from scanned data is considered to be one of the strongest side-channel attacks. In this paper, a scan-based attack method against Triple DES cryptosystems using a ``scan signature'' is proposed. In our method, several plaintexts areinputted into a Triple DES module and an attacker obtains scanned data. Then, an attacker observes a specific bit line (scan signature) of these scanned data to retrieve a secret key. The Triple DES algorithm uses three secret keys. The first secret key can be retrieved as in the same way as we can retrieve a secret key from a DES module. How to retrieve the second and third secret keys is the most concern. In our proposed method, we retrieve the second and third secret keys by using the retrieved first key and setting an appropriate scan signature. Experimental results show that our proposed method successfully retrieve three secret keys in a Triple DES module using up to 43 plaintexts. | |
| キーワード | （和） | Triple DES / サイドチャネル攻撃 / スキャンチェイン / スキャンベース攻撃 / / / / |
| （英） | triple data encryption standard / side-channel attacks / scan chain / scan-based attack / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 111, no. 324, VLD2011-53, pp. 7-12, 2011年11月. | |
| 資料番号 | VLD2011-53 | |
| 発行日 | 2011-11-21 (VLD, DC) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | VLD2011-53 DC2011-29 |
|
| 研究会情報 | |
| 研究会 | VLD DC IPSJ-SLDM CPSY RECONF ICD CPM |
| 開催期間 | 2011-11-28 - 2011-11-30 |
| 開催地（和） | ニューウェルシティ宮崎 |
| 開催地（英） | NewWelCity Miyazaki |
| テーマ（和） | デザインガイア2011 -VLSI設計の新しい大地― |
| テーマ（英） | Design Gaia 2010 -New Field of VLSI Design- |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | VLD |
| 会議コード | 2011-11-VLD-DC-SLDM-CPSY-RECONF-ICD-CPM |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | スキャンシグネチャを用いたTriple DESに対するスキャンベース攻撃手法 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Scan-based Attack against Triple DES Cryptosystems Using Scan Signatures |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | Triple DES / triple data encryption standard |
| キーワード(2)（和/英） | サイドチャネル攻撃 / side-channel attacks |
| キーワード(3)（和/英） | スキャンチェイン / scan chain |
| キーワード(4)（和/英） | スキャンベース攻撃 / scan-based attack |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 小寺 博和 / Hirokazu Kodera / コデラ ヒロカズ |
| 第1著者 所属（和/英） | 早稲田大学 (略称： 早大) Waseda University (略称： Waseda Univ.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 柳澤 政生 / Masao Yanagisawa / ヤナギサワ マサオ |
| 第2著者 所属（和/英） | 早稲田大学 (略称： 早大) Waseda University (略称： Waseda Univ.) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 戸川 望 / Nozomu Togawa / トガワ ノゾム |
| 第3著者 所属（和/英） | 早稲田大学 (略称： 早大) Waseda University (略称： Waseda Univ.) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2011-11-28 09:25:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | VLD |
| 資料番号 | VLD2011-53, DC2011-29 |
| 巻番号（vol） | vol.111 |
| 号番号（no） | no.324(VLD), no.325(DC) |
| ページ範囲 | pp.7-12 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2011-11-21 (VLD, DC) |
[研究会発表申込システムのトップページに戻る]