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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2011-11-29 15:05 NBTI回復現象を利用したマルチコアLSIの自己特性補償法 ○松本高士・牧野紘明（京大）・小林和淑（京都工繊大）・小野寺秀俊（京大）  CPM2011-160 ICD2011-92 エレソ技報アーカイブへのリンク：CPM2011-160 ICD2011-92 |
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| 抄録 | （和） | 近年のLSI の微細化により、信頼性の高いシステムを構築することはますます困難となってきている。主要な要因の１つとして、NBTI（Negative Bias Temperature Instability）として知られるトランジスタの経年劣化が挙 げられる。本研究ではNBTI の回復現象を利用したマルチコアLSI の長寿命化手法について検討した。65nm CMOSによってNBTI の回復を評価した結果に基づく自己特性補償法について述べる。 |
| （英） | Designing reliable systrems has become more difficult in recent years. Negative-Bias-Temperature-In-stability (NBTI) is one of the strongest reliability concerns for CMOS circuits. In this paper, we describe NBTI-Recovery-based multi-core LSI lifetime extension method. NBTI recovery is characterized by NBTI sensor fabricated in a 65 nm CMOS technology. | |
| キーワード | （和） | ディペンダブルVLSI / CMOS / NBTI / マルチコア / 特性補償 / / / |
| （英） | dependable VLSI / CMOS / MBTI / multi-core / performance compensation / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 111, no. 327, ICD2011-92, pp. 59-63, 2011年11月. | |
| 資料番号 | ICD2011-92 | |
| 発行日 | 2011-11-21 (CPM, ICD) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | CPM2011-160 ICD2011-92 エレソ技報アーカイブへのリンク：CPM2011-160 ICD2011-92 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | VLD DC IPSJ-SLDM CPSY RECONF ICD CPM |
| 開催期間 | 2011-11-28 - 2011-11-30 |
| 開催地（和） | ニューウェルシティ宮崎 |
| 開催地（英） | NewWelCity Miyazaki |
| テーマ（和） | デザインガイア2011 -VLSI設計の新しい大地― |
| テーマ（英） | Design Gaia 2010 -New Field of VLSI Design- |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | ICD |
| 会議コード | 2011-11-VLD-DC-SLDM-CPSY-RECONF-ICD-CPM |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | NBTI回復現象を利用したマルチコアLSIの自己特性補償法 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Multi-core LSI Lifetime Extension by NBTI-Recovery-based Self-healing |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | ディペンダブルVLSI / dependable VLSI |
| キーワード(2)（和/英） | CMOS / CMOS |
| キーワード(3)（和/英） | NBTI / MBTI |
| キーワード(4)（和/英） | マルチコア / multi-core |
| キーワード(5)（和/英） | 特性補償 / performance compensation |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 松本 高士 / Takashi Matsumoto / マツモト タカシ |
| 第1著者 所属（和/英） | 京都大学 (略称： 京大) Kyoto University (略称： Kyoto Univ.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 牧野 紘明 / Hiroaki Makino / マキノ ヒロアキ |
| 第2著者 所属（和/英） | 京都大学 (略称： 京大) Kyoto University (略称： Kyoto Univ.) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 小林 和淑 / Kazutoshi Kobayashi / コバヤシ カズトシ |
| 第3著者 所属（和/英） | 京都工芸繊維大学 (略称： 京都工繊大) Kyoto Institute of Technology (略称： Kyoto Inst. Tech.) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 小野寺 秀俊 / Hidetoshi Onodera / オノデラ ヒデトシ |
| 第4著者 所属（和/英） | 京都大学 (略称： 京大) Kyoto University (略称： Kyoto Univ.) |
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| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2011-11-29 15:05:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | ICD |
| 資料番号 | CPM2011-160, ICD2011-92 |
| 巻番号（vol） | vol.111 |
| 号番号（no） | no.326(CPM), no.327(ICD) |
| ページ範囲 | pp.59-63 |
| ページ数 | 5 |
| 発行日 | 2011-11-21 (CPM, ICD) |
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