お知らせ 2023年度・2024年度 学生員 会費割引キャンペーン実施中です
お知らせ 技術研究報告と和文論文誌Cの同時投稿施策(掲載料1割引き)について
お知らせ 電子情報通信学会における研究会開催について
お知らせ NEW 参加費の返金について
電子情報通信学会 研究会発表申込システム
講演論文 詳細
技報閲覧サービス
[ログイン]
技報アーカイブ
 トップに戻る 前のページに戻る   [Japanese] / [English] 

講演抄録/キーワード
講演名 2011-11-30 10:05
二重化を用いた演算器アレイにおける故障箇所特定手法
狹間洋平姚 駿中田 尚中島康彦奈良先端大CPSY2011-51
抄録 (和) 従来,演算器やプロセッサの故障箇所の特定には三重化を用いてきた.しかし,三重化回路は演算器が三倍必要になり,更に多数決論理も必要であるため,面積オーバーヘッドが問題であり,柔軟性にも欠ける.我々が提案している高信頼演算器アレイ型アクセラレータでは,演算器アレイを利用して二重で処理を行い,再実行によってソフトエラーを回避する.本研究ではハードエラーに対応するために,二重に処理を行う演算器と比較命令を実行する演算器を動的に変更することによって三重化を用いない故障演算器特定手法を提案する.この手法では三重化を用いない代わりに,各演算器の状態を保存するテーブルの情報に基づいた命令再配置による二重化実行のみで故障演算器を特定する.この方法では三重化を用いないために面積オーバーヘッドを小さく抑えることができると考えられる. 
(英) Triple Modular Redundancy (TMR) is widely used to locating the erroneous unit inside electronic device when the possibility of permanent defects increases due to wear out. However, using TMR circuit will require triple execution units and voter logics, which introduce large hardware overhead but have little flexibility. Previously, we designed a dependable execution inside a Function Unit (FU) array, which covers soft errors by mapping minimal required Dual Modular Redundancy (DMR) executions inside non-hardened units. in this research, we propose a hard error locating method by dynamically adding additional check operations inside the array, under the awareness of a possible permanent fault. This method use a table and an automated tuning method based on remapping to help the original DMR understand the health of each unit. It is expected to be flexible and have small hardware overhead by not using a traditional TMR architecture.
キーワード (和) 耐故障 / 永久故障 / 再マップ / 冗長化 / / / /  
(英) Fault tolerance / Hard error / remapping / Dependable computing / non TMR / / /  
文献情報 信学技報, vol. 111, no. 328, CPSY2011-51, pp. 47-52, 2011年11月.
資料番号 CPSY2011-51 
発行日 2011-11-22 (CPSY) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685    Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード CPSY2011-51

研究会情報
研究会 VLD DC IPSJ-SLDM CPSY RECONF ICD CPM  
開催期間 2011-11-28 - 2011-11-30 
開催地(和) ニューウェルシティ宮崎 
開催地(英) NewWelCity Miyazaki 
テーマ(和) デザインガイア2011 -VLSI設計の新しい大地― 
テーマ(英) Design Gaia 2010 -New Field of VLSI Design- 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 CPSY 
会議コード 2011-11-VLD-DC-SLDM-CPSY-RECONF-ICD-CPM 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 二重化を用いた演算器アレイにおける故障箇所特定手法 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) A DMR based Parmanent Error Locating Method for a Dependable FU Array 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) 耐故障 / Fault tolerance  
キーワード(2)(和/英) 永久故障 / Hard error  
キーワード(3)(和/英) 再マップ / remapping  
キーワード(4)(和/英) 冗長化 / Dependable computing  
キーワード(5)(和/英) / non TMR  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 狹間 洋平 / Yohei Hazama / ハザマ ヨウヘイ
第1著者 所属(和/英) 奈良先端科学技術大学院大学 (略称: 奈良先端大)
Nara Institute of Science and Technology (略称: NAIST)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 姚 駿 / Jun Yao / ヤオ ジュン
第2著者 所属(和/英) 奈良先端科学技術大学院大学 (略称: 奈良先端大)
Nara Institute of Science and Technology (略称: NAIST)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 中田 尚 / Takashi Nakada / ナカダ タカシ
第3著者 所属(和/英) 奈良先端科学技術大学院大学 (略称: 奈良先端大)
Nara Institute of Science and Technology (略称: NAIST)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 中島 康彦 / Yasuhiko Nakashima / ナカシマ ヤスヒコ
第4著者 所属(和/英) 奈良先端科学技術大学院大学 (略称: 奈良先端大)
Nara Institute of Science and Technology (略称: NAIST)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第5著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第6著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第6著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第7著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第7著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第8著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第8著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第9著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第9著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第10著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第10著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第11著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第11著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第12著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第12著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第13著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第13著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第14著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第14著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第15著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第15著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第16著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第16著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第17著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第17著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第18著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第18著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第19著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第19著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第20著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第20著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
講演者 第1著者 
発表日時 2011-11-30 10:05:00 
発表時間 25分 
申込先研究会 CPSY 
資料番号 CPSY2011-51 
巻番号(vol) vol.111 
号番号(no) no.328 
ページ範囲 pp.47-52 
ページ数
発行日 2011-11-22 (CPSY) 


[研究会発表申込システムのトップページに戻る]

[電子情報通信学会ホームページ]


IEICE / 電子情報通信学会