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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2011-12-15 16:10 ［ポスター講演］低電圧動作CMOSディジタル回路のためのゲート幅実効調整方式素子特性ばらつき補償技術の検討 ○岸和田 泰・上田 瞬・宮脇祐介・松岡俊匡（阪大）  ICD2011-109 |
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| 抄録 | （和） | (まだ登録されていません) |
| （英） | (Not available yet) | |
| キーワード | （和） | / / / / / / / |
| （英） | / / / / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 111, no. 352, ICD2011-109, pp. 53-55, 2011年12月. | |
| 資料番号 | ICD2011-109 | |
| 発行日 | 2011-12-08 (ICD) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | ICD2011-109 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | ICD |
| 開催期間 | 2011-12-15 - 2011-12-16 |
| 開催地（和） | 大阪大学会館 |
| 開催地（英） | |
| テーマ（和） | 学生・若手技術者育成のための研究会 |
| テーマ（英） | |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | ICD |
| 会議コード | 2011-12-ICD |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 低電圧動作CMOSディジタル回路のためのゲート幅実効調整方式素子特性ばらつき補償技術の検討 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Process variation compensation with effective gate-width tuning for low-voltage CMOS digital circuits |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | / |
| キーワード(2)（和/英） | / |
| キーワード(3)（和/英） | / |
| キーワード(4)（和/英） | / |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 岸和田 泰 / Yasushi Kishiwada / キシワダ ヤスシ |
| 第1著者 所属（和/英） | 大阪大学 (略称： 阪大) Osaka University (略称： Osaka Univ.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 上田 瞬 / Shun Ueda / ウエダ シュン |
| 第2著者 所属（和/英） | 大阪大学 (略称： 阪大) Osaka University (略称： Osaka Univ.) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 宮脇 祐介 / Yusuke Miyawaki / ミヤワキ ユウスケ |
| 第3著者 所属（和/英） | 大阪大学 (略称： 阪大) Osaka University (略称： Osaka Univ.) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 松岡 俊匡 / Toshimasa Matsuoka / マツオカ トシマサ |
| 第4著者 所属（和/英） | 大阪大学 (略称： 阪大) Osaka University (略称： Osaka Univ.) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2011-12-15 16:10:00 |
| 発表時間 | 110分 |
| 申込先研究会 | ICD |
| 資料番号 | ICD2011-109 |
| 巻番号（vol） | vol.111 |
| 号番号（no） | no.352 |
| ページ範囲 | pp.53-55 |
| ページ数 | 3 |
| 発行日 | 2011-12-08 (ICD) |
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