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| 講演名 | 2011-12-15 16:10 ［ポスター講演］SAR ADCにおける精度向上の検討 ○浅澤豊旗・角川佳弘・宮原正也・松澤 昭（東工大）  ICD2011-122 エレソ技報アーカイブへのリンク：ICD2011-122 |
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| 抄録 | （和） | 本発表では逐次比較型アナログディジタル変換器(SAR ADC)の線形性補正による高精度化手法の検討について報告する。 SAR ADCは容量DAC、サンプルホールド回路、比較器、ロジック回路で構成されており、比較的電力効率のよい構造である。 しかしながら、CMOSプロセスの素子ばらつきや容量DAC内の配線容量などの寄生容量による線形性劣化、またスイッチ抵抗や比較器で発生する雑音等が原因で高分解能化の実現が困難である。 そこで高精度化の課題の一つである線形性の改善を目的として、容量DACの面積増加を抑えたまま精度向上が期待できる寄生容量の補正方法とミスマッチ補正方法についての検討を行った。 また、補正精度の向上のためにMetal-Oxide-Metal(MOM)容量を用いた微小容量構造について検討した。 シミュレーションにより寄生容量補正によりENOB10.6bitから11.8bitへの精度改善、ミスマッチ補正によるエラーの低減を確認した。 |
| （英） | This poster reports two linearity calibration methods for successive approximation register analog-to-digital converter (SAR ADC). The linearity of SAR ADC deteriorates due to the parasitic capacitance and the mismatch of Capacitor DAC(CDAC). The structure of CDAC with capacitor for sub DAC for mismatch calibration and parasitic capacitance calibration is proposed. And Metal-Oxide-Metal(MOM) capacitor structure is introduced for small capacitor. The simulation results show that calibration method for parasitic capacitance and mismatch achieved ENOB improvement from 10.6 bits to 11.8 bits. |
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| キーワード | （和） | SAR ADC / 寄生容量補正 / ミスマッチ補正 / MOM容量 / / / / |
| （英） | SAR ADC / parasitic capacitance calibration / mismatch calibration / MOM capacitor / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 111, no. 352, ICD2011-122, pp. 109-109, 2011年12月. | |
| 資料番号 | ICD2011-122 | |
| 発行日 | 2011-12-08 (ICD) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | ICD2011-122 エレソ技報アーカイブへのリンク：ICD2011-122 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | ICD |
| 開催期間 | 2011-12-15 - 2011-12-16 |
| 開催地（和） | 大阪大学会館 |
| 開催地（英） | |
| テーマ（和） | 学生・若手技術者育成のための研究会 |
| テーマ（英） | |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | ICD |
| 会議コード | 2011-12-ICD |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | SAR ADCにおける精度向上の検討 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | A Study on High Resolution SAR ADC |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | SAR ADC / SAR ADC |
| キーワード(2)（和/英） | 寄生容量補正 / parasitic capacitance calibration |
| キーワード(3)（和/英） | ミスマッチ補正 / mismatch calibration |
| キーワード(4)（和/英） | MOM容量 / MOM capacitor |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 浅澤 豊旗 / Toyoki Asazawa / アサザワ トヨキ |
| 第1著者 所属（和/英） | 東京工業大学 (略称： 東工大) Tokyo Institute of Technology (略称： Titech) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 角川 佳弘 / Yoshihiro Tsunokawa / ツノカワ ヨシヒロ |
| 第2著者 所属（和/英） | 東京工業大学 (略称： 東工大) Tokyo Institute of Technology (略称： Titech) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 宮原 正也 / Masaya Miyahara / ミヤハラ マサヤ |
| 第3著者 所属（和/英） | 東京工業大学 (略称： 東工大) Tokyo Institute of Technology (略称： Titech) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 松澤 昭 / Akira Matsuzawa / マツザワ アキラ |
| 第4著者 所属（和/英） | 東京工業大学 (略称： 東工大) Tokyo Institute of Technology (略称： Titech) |
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| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2011-12-15 16:10:00 |
| 発表時間 | 110分 |
| 申込先研究会 | ICD |
| 資料番号 | ICD2011-122 |
| 巻番号（vol） | vol.111 |
| 号番号（no） | no.352 |
| ページ範囲 | p.109 |
| ページ数 | 1 |
| 発行日 | 2011-12-08 (ICD) |
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