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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2011-12-16 14:25 チップ間ばらつき及びチップ内ばらつきを抑制する基板バイアス制御回路を備えた0.42-V 576-Kb 0.15-μm FD-SOI 7T/14T SRAM ○吉本秀輔・山口幸介・奥村俊介・吉本雅彦・川口 博（神戸大）  ICD2011-133 |
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| 抄録 | （和） | 本論文では，チップ内ばらつき及びチップ間ばらつきを抑制する，基板バイアス制御回路を備えた7T/14T SRAMを提案する．提案する基板バイアス制御回路は，自律的にチップ間ばらつきを検出し，動作マージンが拡大する方向へ基板バイアスを印加することが出来る．7T/14T SRAMセルは，通常モードである7Tセルと高信頼モードである14Tセルを要求される信頼度に応じて自由に切り替えることが可能である．そのため，チップ内ばらつきに強く，低電圧動作が期待できる．提案する基板バイアス制御回路と7T/14T SRAMセルを組み合わせることにより，チップ間ばらつき及びチップ内ばらつきを抑制出来る．0.15 µmのFD-SOIプロセスを用いて，576-Kb SRAMを試作し評価したところ，14Tモード使用時において電圧下限を0.32V改善し，0.42Vで動作可能となることを示した． |
| （英） | We propose 7T/14T FD-SOI SRAM with a substrate bias control mechanism. The 14T configuration suppresses intra-die variation in a bit cell. The substrate bias control circuits detect a threshold voltage and automatically change it with the substrate bias. Thereby, the inter-die variation is suppressed. By combining these two schemes, we confirmed that a 576-kb SRAM test chip in a 0.15-µm FD-SOI works at 0.43 V. | |
| キーワード | （和） | SRAM / FD-SOI / 基板バイアス制御 / チップ内ばらつき / チップ間ばらつき / / / |
| （英） | SRAM / FD-SOI / Substrate-bias control / Intra-die variability / Inter-die variability / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 111, no. 352, ICD2011-133, pp. 155-160, 2011年12月. | |
| 資料番号 | ICD2011-133 | |
| 発行日 | 2011-12-08 (ICD) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | ICD2011-133 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | ICD |
| 開催期間 | 2011-12-15 - 2011-12-16 |
| 開催地（和） | 大阪大学会館 |
| 開催地（英） | |
| テーマ（和） | 学生・若手技術者育成のための研究会 |
| テーマ（英） | |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | ICD |
| 会議コード | 2011-12-ICD |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | チップ間ばらつき及びチップ内ばらつきを抑制する基板バイアス制御回路を備えた0.42-V 576-Kb 0.15-μm FD-SOI 7T/14T SRAM |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | 0.42-V 576-kb 0.15-um FD-SOI SRAM with 7T/14T Bit Cells and Substrate Bias Control Circuits for Intra-Die and Inter-Die Variability Compensation |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | SRAM / SRAM |
| キーワード(2)（和/英） | FD-SOI / FD-SOI |
| キーワード(3)（和/英） | 基板バイアス制御 / Substrate-bias control |
| キーワード(4)（和/英） | チップ内ばらつき / Intra-die variability |
| キーワード(5)（和/英） | チップ間ばらつき / Inter-die variability |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 吉本 秀輔 / Shusuke Yoshimoto / ヨシモト シュウスケ |
| 第1著者 所属（和/英） | 神戸大学 (略称： 神戸大) Kobe University (略称： Kobe Univ.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 山口 幸介 / Kosuke Yamaguchi / ヤマグ チコウスケ |
| 第2著者 所属（和/英） | 神戸大学 (略称： 神戸大) Kobe University (略称： Kobe Univ.) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 奥村 俊介 / Shunsuke Okumura / オクムラ シュンスケ |
| 第3著者 所属（和/英） | 神戸大学 (略称： 神戸大) Kobe University (略称： Kobe Univ.) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 吉本 雅彦 / Masahiko Yoshimoto / ヨシモト マサヒコ |
| 第4著者 所属（和/英） | 神戸大学 (略称： 神戸大) Kobe University (略称： Kobe Univ.) |
| 第5著者 氏名（和/英/ヨミ） | 川口 博 / Hiroshi Kawaguchi / カワグチ ヒロシ |
| 第5著者 所属（和/英） | 神戸大学 (略称： 神戸大) Kobe University (略称： Kobe Univ.) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2011-12-16 14:25:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | ICD |
| 資料番号 | ICD2011-133 |
| 巻番号（vol） | vol.111 |
| 号番号（no） | no.352 |
| ページ範囲 | pp.155-160 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2011-12-08 (ICD) |
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