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講演抄録/キーワード
講演名 2011-12-22 15:50
最近の家電製品事故とNITEの事故原因究明
川野和弘製品評価技術基盤機構SSS2011-22
抄録 (和) 独立行政法人製品評価技術基盤機構(以下、「NITE」という。)における製品事故収集件数は、平成20年度から平成22年度の3年間に12,690件あり、そのうち家庭用電気製品は6,721件と半数を超えている。NITEが収集した事故情報を基に、最近の家電製品事故に見る特徴的な事故原因とNITEにおける事故原因究明の実例を紹介する。 
(英) This paper explains a method of investigating accidents causes and examples of the latest home-electronics accidents that actually occurred, from the collected accident information of NITE.
キーワード (和) 溶融痕 / 事故原因 / 家電製品 / / / / /  
(英) Shorted arc beads / Accidents causes / Home-electronics / / / / /  
文献情報 信学技報, vol. 111, no. 371, SSS2011-22, pp. 17-19, 2011年12月.
資料番号 SSS2011-22 
発行日 2011-12-15 (SSS) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685    Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード SSS2011-22

研究会情報
研究会 SSS  
開催期間 2011-12-22 - 2011-12-22 
開催地(和) 明治大 
開催地(英)  
テーマ(和) 製品安全を主として 
テーマ(英) Safety for Product 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 SSS 
会議コード 2011-12-SSS 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 最近の家電製品事故とNITEの事故原因究明 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) The latest home-electronics accident and accident cause investigation activities in NITE 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) 溶融痕 / Shorted arc beads  
キーワード(2)(和/英) 事故原因 / Accidents causes  
キーワード(3)(和/英) 家電製品 / Home-electronics  
キーワード(4)(和/英) /  
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第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 川野 和弘 / Kazuhiro Kawano / カワノ カズヒロ
第1著者 所属(和/英) 製品評価技術基盤機構 (略称: 製品評価技術基盤機構)
National Institute of Technology and Evaluation (略称: NITE)
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講演者 第1著者 
発表日時 2011-12-22 15:50:00 
発表時間 40分 
申込先研究会 SSS 
資料番号 SSS2011-22 
巻番号(vol) vol.111 
号番号(no) no.371 
ページ範囲 pp.17-19 
ページ数
発行日 2011-12-15 (SSS) 


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