講演抄録/キーワード |
講演名 |
2012-01-20 10:30
低電圧動作におけるマージン拡大機能を有する連想度可変キャッシュ ○鄭 晋旭・中田洋平・奥村俊介・川口 博(神戸大)・吉本雅彦(JST) ICD2011-139 エレソ技報アーカイブへのリンク:ICD2011-139 |
抄録 |
(和) |
本論文では、低電圧動作時における最適なキャッシュの構成が得られる連想度可変キャッシュを提案する。連想度可変キャッシュは2つのキャッシュウェイをペアで構成した構造を持ち、メモリセルとして7T/14T SRAMを使用する。それにより、連想度を可変にすることが可能となり、動作環境に応じて連想度を適切に選ぶことでキャッシュの動作マージンを拡大する。すなわち、動作環境に適したキャッシュの構成を取ることで低電圧動作時の信頼性改善が可能である。実チップの測定に基づく評価の結果、4.93%のIPC劣化で最低動作電圧が115 mV改善できることを確認した。また、面積評価の結果、32 KBキャッシュの場合1.91%、256 KBキャッシュの場合5.57%の面積オーバヘッドがあることを確認した。 |
(英) |
This paper presents a dependable cache memory for which associativity can be reconfigured dynamically. The proposed associativity-reconfigurable cache consists of pairs of cache ways. The proposed cache can dynamically enhance its reliability in the dependable mode, thereby trading off its performance. The reliability of the proposed cache can be scaled by reconfiguring its associativity. Moreover, the configuration can be chosen based upon current operating conditions. Our chip measurement results show that the proposed dependable cache possesses the scalable characteristic of reliability. Moreover, it can decrease the minimum operating voltage by 115 mV. The cycle accurate simulation shows that designing the L1, L2 caches using the proposed scheme results in 4.93% IPC loss on average. Area estimation results show that the proposed cache adds area overhead of 1.91% and 5.57% in 32-KB and 256-KB caches, respectively. |
キーワード |
(和) |
キャッシュ / SRAM / 信頼性 / 連想度可変 / / / / |
(英) |
Cache / SRAM / Reliability / Variable Associativity / / / / |
文献情報 |
信学技報, vol. 111, no. 388, ICD2011-139, pp. 55-60, 2012年1月. |
資料番号 |
ICD2011-139 |
発行日 |
2012-01-12 (ICD) |
ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 |
著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) |
PDFダウンロード |
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