講演抄録/キーワード |
講演名 |
2012-01-20 14:20
紫外光照射下における酸化チタン薄膜の電子と正孔の移動度 ○渡邉悠介・村本裕二・清水教之(名城大) OME2011-75 エレソ技報アーカイブへのリンク:OME2011-75 |
抄録 |
(和) |
酸化チタン(TiO2)は紫外光を吸収することで、光触媒として働く。これは紫外光によって価電子帯の電子が伝導帯に励起されると同時に正孔が生成され、これら電子と正孔が表面で酸化、還元反応を起こすことによる。従って光触媒活性とTiO2の電子的特性(抵抗率、キャリア密度、移動度)は密接に関係すると考えられる。
本研究では、電子と正孔を分離して、電子による電流と正孔による電流を測定した。実験結果から、電子の移動度と正孔の移動度の値が近い、つまりμe≈μhであることが示された。さらに、Time of Flight法と組み合わせることで、電子、正孔移動度の測定を試みた。 |
(英) |
TiO2 has photocatalysis. When UV light is irradiated, electron-hole pairs are generated in TiO2. The source of photocatalysis is oxidation and reduction reactions at the surface due to electrons and holes. Therefore, it is considered that the photocatalytic activities are closely related to electronic properties of the TiO2 under UV light irradiation.
In this paper, we successfully separated two current components due to electrons and holes using a new technique. The current component of electrons was almost the same with that of holes. From this result, it is suggested that the values of electron mobility and hole mobility are close. In addition, we tried to separately measured electron mobility and hole mobility using time of flight technique. |
キーワード |
(和) |
TiO2 / 光励起 / 電子 / 正孔 / 分離 / 移動度 / キャリア密度 / |
(英) |
TiO2 / Photo-excitation / Electron / Hole / Separation / Mobility / Carrier density / |
文献情報 |
信学技報, vol. 111, no. 392, OME2011-75, pp. 35-39, 2012年1月. |
資料番号 |
OME2011-75 |
発行日 |
2012-01-13 (OME) |
ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 |
著作権に ついて |
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