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講演抄録/キーワード
講演名 2012-01-20 14:20
紫外光照射下における酸化チタン薄膜の電子と正孔の移動度
渡邉悠介村本裕二清水教之名城大OME2011-75 エレソ技報アーカイブへのリンク:OME2011-75
抄録 (和) 酸化チタン(TiO2)は紫外光を吸収することで、光触媒として働く。これは紫外光によって価電子帯の電子が伝導帯に励起されると同時に正孔が生成され、これら電子と正孔が表面で酸化、還元反応を起こすことによる。従って光触媒活性とTiO2の電子的特性(抵抗率、キャリア密度、移動度)は密接に関係すると考えられる。
本研究では、電子と正孔を分離して、電子による電流と正孔による電流を測定した。実験結果から、電子の移動度と正孔の移動度の値が近い、つまりμe≈μhであることが示された。さらに、Time of Flight法と組み合わせることで、電子、正孔移動度の測定を試みた。 
(英) TiO2 has photocatalysis. When UV light is irradiated, electron-hole pairs are generated in TiO2. The source of photocatalysis is oxidation and reduction reactions at the surface due to electrons and holes. Therefore, it is considered that the photocatalytic activities are closely related to electronic properties of the TiO2 under UV light irradiation.
In this paper, we successfully separated two current components due to electrons and holes using a new technique. The current component of electrons was almost the same with that of holes. From this result, it is suggested that the values of electron mobility and hole mobility are close. In addition, we tried to separately measured electron mobility and hole mobility using time of flight technique.
キーワード (和) TiO2 / 光励起 / 電子 / 正孔 / 分離 / 移動度 / キャリア密度 /  
(英) TiO2 / Photo-excitation / Electron / Hole / Separation / Mobility / Carrier density /  
文献情報 信学技報, vol. 111, no. 392, OME2011-75, pp. 35-39, 2012年1月.
資料番号 OME2011-75 
発行日 2012-01-13 (OME) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685    Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード OME2011-75 エレソ技報アーカイブへのリンク:OME2011-75

研究会情報
研究会 OME IEE-DEI  
開催期間 2012-01-20 - 2012-01-20 
開催地(和) 名古屋大学 
開催地(英) Nagoya Univ. 
テーマ(和) 有機材料・一般 
テーマ(英)  
講演論文情報の詳細
申込み研究会 OME 
会議コード 2012-01-OME-DEI 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 紫外光照射下における酸化チタン薄膜の電子と正孔の移動度 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Mobilites of Electron and Hole in TiO2 Thin Films under UV Light Irradiation 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) TiO2 / TiO2  
キーワード(2)(和/英) 光励起 / Photo-excitation  
キーワード(3)(和/英) 電子 / Electron  
キーワード(4)(和/英) 正孔 / Hole  
キーワード(5)(和/英) 分離 / Separation  
キーワード(6)(和/英) 移動度 / Mobility  
キーワード(7)(和/英) キャリア密度 / Carrier density  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 渡邉 悠介 / Yusuke Watanabe / ワタナベ ユウスケ
第1著者 所属(和/英) 名城大学 (略称: 名城大)
Meijo University (略称: Meijo Univ.)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 村本 裕二 / Yuji Muramoto / ムラモト ユウジ
第2著者 所属(和/英) 名城大学 (略称: 名城大)
Meijo University (略称: Meijo Univ.)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 清水 教之 / Noriyuki Shimizu / シミズ ノリユキ
第3著者 所属(和/英) 名城大学 (略称: 名城大)
Meijo University (略称: Meijo Univ.)
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講演者 第1著者 
発表日時 2012-01-20 14:20:00 
発表時間 25分 
申込先研究会 OME 
資料番号 OME2011-75 
巻番号(vol) vol.111 
号番号(no) no.392 
ページ範囲 pp.35-39 
ページ数
発行日 2012-01-13 (OME) 


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