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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2012-01-26 09:00 0次減衰する連想記憶モデルの記憶容量に関する研究 ○宮田龍太（東工大）・綴木 馴（岡山理科大）・青西 亨（東工大）・倉田耕治（琉球大）  NC2011-97 |
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| 抄録 | （和） | 短期記憶の場として目される海馬とその周辺では，シナプスの死滅・新生が観測されている．生理学的実験により，スパインの体積の小さいシナプスほど死滅されやすいことがわかった． 本研究では計算論的観点から，ネットワーク内のシナプス新生が及ぼす記憶への影響を調べるため，0次減衰するHopfieldモデルを用いて数値実験を行った．実験結果より，シナプス新生はネットワークのオーバーロードを回避し，最近の記憶を安定して保持する役割を担う可能性があることがわかった．また，0次減衰モデルの記憶容量はシナプス新生数に相当する減衰率に依存することを示す． さらに，β次減衰モデルへと拡張し，減衰項の次元の変化に伴うモデルの記憶特性について調べた．その結果，次元が充分大きいところではモデルの記憶特性が一定になることがわかった． |
| （英） | It has been reported that synaptogenesis, formation of synaptic connection, continues to take place in certain regions of the postnatal brain including the hippocampal regions. According to the previous neurophysiological experiment, synapses with smaller strength tend to be eliminated with higher probability. We investigate the effect of synaptogenesis on memories in the neural circuit, proposing the abstract neural network model, the Hopfield model with the zero-order synaptic decay. Using the numerical simulations, we demonstrate the possibility that synaptogenesis plays a role in maintaining recent memories embedded in the network while avoiding overloading. We also show the storage capacity of the zero-order decay model as a function of the decay rate which corresponds to the number of replacement synapses. Furthermore, we extend the zero-order decay model to β-th-order, and investigate its characteristics varying the order of the decay term, $\beta$. The results show that the characteristics of the β-th-order decay model are constant for a large order β. |
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| キーワード | （和） | シナプス新生 / 0次減衰 / 連想記憶 / Hopfieldモデル / 指数的忘却 / β次減衰 / オーバーロード / 記憶容量 |
| （英） | synaptogenesis / zero-order synaptic decay / associative memory / Hopfield model / forgetting process / β-th-order synaptic decay / overloading / storage capacity | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 111, no. 419, NC2011-97, pp. 1-6, 2012年1月. | |
| 資料番号 | NC2011-97 | |
| 発行日 | 2012-01-19 (NC) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | NC2011-97 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | NC |
| 開催期間 | 2012-01-26 - 2012-01-27 |
| 開催地（和） | 公立はこだて未来大学 |
| 開催地（英） | Future University Hakodate |
| テーマ（和） | 一般、複雑系とニューロコンピューティング |
| テーマ（英） | General, Complex Systems and Neurocomputing |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | NC |
| 会議コード | 2012-01-NC |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 0次減衰する連想記憶モデルの記憶容量に関する研究 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Storage capacity of the associative memory model with the zero-order synaptic decay |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | シナプス新生 / synaptogenesis |
| キーワード(2)（和/英） | 0次減衰 / zero-order synaptic decay |
| キーワード(3)（和/英） | 連想記憶 / associative memory |
| キーワード(4)（和/英） | Hopfieldモデル / Hopfield model |
| キーワード(5)（和/英） | 指数的忘却 / forgetting process |
| キーワード(6)（和/英） | β次減衰 / β-th-order synaptic decay |
| キーワード(7)（和/英） | オーバーロード / overloading |
| キーワード(8)（和/英） | 記憶容量 / storage capacity |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 宮田 龍太 / Ryota Miyata / ミヤタ リョウタ |
| 第1著者 所属（和/英） | 東京工業大学 (略称： 東工大) Tokyo Institute of Technology (略称： Tokyo Tech.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 綴木 馴 / Jun Tsuzurugi / ツヅルギ ジュン |
| 第2著者 所属（和/英） | 岡山理科大学 (略称： 岡山理科大) Okayama University of Science (略称： Okayama Univ. Sci.) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 青西 亨 / Toru Aonishi / アオニシ トオル |
| 第3著者 所属（和/英） | 東京工業大学 (略称： 東工大) Tokyo Institute of Technology (略称： Tokyo Tech.) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 倉田 耕治 / Koji Kurata / クラタ コウジ |
| 第4著者 所属（和/英） | 琉球大学 (略称： 琉球大) University of the Ryukyus (略称： Univ. Ryukyu.) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2012-01-26 09:00:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | NC |
| 資料番号 | NC2011-97 |
| 巻番号（vol） | vol.111 |
| 号番号（no） | no.419 |
| ページ範囲 | pp.1-6 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2012-01-19 (NC) |
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